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동향 기본정보

OECD, 특허 통계 매뉴얼

동향 개요

기관명, 작성자, 작성일자, 내용, 출처, 원문URL, 첨부파일 순으로 구성된 표입니다.
기관명 NDSL
작성자 글로벌 과학기술정책 정보서비스
작성일자 2009-02-18 00:00:00.000
내용 본 문서는 OECD 사무국과 과학 기술 지표에 대한 국립 전문가들 (National Experts on Science and Technology Indicators, NESTI) 의 실무진이 함께 준비한 것으로 , 특허 통계를 만드는 사람과 사용자 모두 , 자료를 편집하고 분석하는데 필요한 기초적인 가이드라인을 제공하기 위해 제작되었다 . OECD 가 특허 통계의 사용의 중요성을 강조한 것은 1970 년 후반이다 . 1994 년 첫 번째 매뉴얼이 출판되었다 . 1996 년도 OECD 가 주최한 ' 기식 - 기반 경제를 위한 새로운 과학 및 기술 지표 ' 에 대한 블루 스카인 (Blue Sky) 컨퍼런스에서 전문가들은 특허를 정량적으로 과학 기술을 이해하는데 도움이 된다고 인식하게 되었다 . 그 때 이후로 , 특허에 대한 통계 작업은 OECD 국가와 대학에서 상당한 진전이 이루어지고 있다 . 본 매뉴얼은 이런 발전에 대해 설명하고자 한다 . 본 매뉴얼은 무슨 특허 통계를 사용할 수 있으며 , 사용할 수 없는지 , 그리고 편견이나 노이즈를 최소화하면서 과학 기술 활동에 대한 정보를 극대화하기 위해서 어떻게 특허를 세야 하는지를 보여주고 있다 . 특허 자료는 발명 활동에 대한 과정과 결과물에 대한 독특한 통찰력을 제공해 준다 ( 발명 활동 장소 , 발명의 네트워크 , 최첨단 기술 들 ). 특허 자료는 , 다른 자료들과 사용하게 되면 , 정책적으로 관심이 있는 혁신의 다른 측면 ( 경제 수행에 있어서의 지적 소유권의 역할 , 기업 정신 , 과학 기술 시스템에서 연결 고리 추적 ) 을 분석할 수 있다 . 아직까지는 특허 - 기반 지표에 몇 가지 약점이 있기 때문에 , 조심스럽게 디자인되고 다루어져야 할 필요성이 있음을 매뉴얼에서 다루고 있다 . 다음은 본문 중에서 한국에 대한 언급이 있는 부분을 정리한 것이다 . 4 장의 “ 특허에 기초한 지표를 컴파일하기 위한 기초 기준 ” 중에서 가장 일반적인 법칙으로 , 특허 통계를 방법론적으로 선택하는 것으로서, 참고 날짜 , 특허권을 소유한 국가 , 국제적으로 비교할 수 있는 집합체의 처리들이다 . 이들 기준에 기초해 가장 정제된 지표들은 기술 영역 , 지역 , 기관들이 고려 될 수 있다 . 보통 , 다른 특허 사무소에서 나온 지표들을 함께 사용하지 않아야 한다 . 예를 들면 , 한국인 지원자들에 의해 한국에서 지원한 특허 수는 오스트레일리아인 ( 한국인 이라고 해도 ) 지원자들에 의해 오스트레일리아에서 지원한 특허 수와 비교할 수 없다 . 이것은 나중에 보겠지만 , 법적 행정적인 과정이 특허 사무소마다 다르고 , 지원자 ( 자국에서 지원한 것이 다른 곳에 사는 지원자들보다 더 많은 특허를 자국에서 가짐 ) 의 행동이 자국에 편향되기 때문이다 . 따라서 이번 장에서 분석한 것은 단일 사무소에서 얻어낸 것들이다 . 그림 4.1 은 USPTO, EPO, JPO 의 가져온 2005 년도 특허 자료로 국가별 특허 분율로 표시한 것이다 . USPTO 자료서 미국은 53.2 로 가장 높았고 , 한국은 4.4 로 나타났다 . EPO 에서는 유럽연합이 42.3 으로 가장 높게 그리고 한국은 6 번째인 4.0 으로 나타났다 . JPO 에서는 일본이 71.9 로 가장 높고 한국은 5 번째인 1.6 으로 나타났다 . 목차 서론 1장 – 목적과 매뉴얼의 범위 2장 – 과학 기술의 통계 지표로써의 특허 : 서론 / 특허의 법적 근거 / 보호를 위한 행정적인 경로 / 특허의 경제적인 근거 / 특허 문서의 정보 내용 / 발명 활동의 통계 지표로써의 특허 / 특허 데이터베이스 / 조사 주제 3장 – 특허 시스템과 과정 : 서론 / 핵심적인 특허 과정 / 국가 및 지역적인 과정 / 국제 특허 응용 4장 – 특허에 기초한 지표를 컴파일링하기 위한 기초 기준 : 서론 / 참고 날짜 / 참고 국가 / PCT 응용 / 특허 패밀리 / 평준화된 국가 수준에서의 특허 지표 5장 – 다른 기준에 의한 특허 분류 : 서론 / 기술 분야 / 산업별 분류 / 지역별 분류 / 기관 부문 / 기업에 의한 특허 / 발명자에 의한 특허 6장 – 특허에서의 인용의 사용과 분석 : 서론 / 인용이란 무엇인가 ?/ 인용 지표의 사용과 응용 / 특허 사무실에서의 인용 상황 / 인용에 기초한 지표들 / 비특허 문헌 / 인용의 카데고리를 기초로한 다른 지표들 7장 – 과학 기술의 국제화에 대한 지표들 : 서론 / 지표 / 소유와 연구 전략 8장 – 특허 가치에 대한 지표들 : 서론 / 포워드 인용 / 절차 정보 및 응용자의 행동에 기초와 지표들 / 다른 지표들 .
출처
원문URL http://click.ndsl.kr/servlet/OpenAPIDetailView?keyValue=03553784&target=TREND&cn=GT200900467
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