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현재까지, NEMS(NanoElectroMechanical System)의 측정 한계는 이론적 기대치에 비해 한참 떨어지는 수준에 머물러 있었다. 그 이유는, 주로 background noise라고 불리는 굉장히 작은 수준의 변수들의 차이에 의해 연쇄적으로 일어나는 현상을 컨트롤하는 것이 불가능했기 때문이다. 예를 들면, NEMS에 존재하는 측정기는 각각의 온도에 따른 기준치를 가지고 있는데, 측정 중에는 불명의 원인에 의해 0.01도 정도의 온도는 변할 수 있기 때문에, 기준치에서 벗어나게 되고, 결과적으로 측정결과에 잡음이 생길 수 밖에 없다. 이번 연구는 이러한 문제점을 해결하기 위한 파생 연구이다. CEA-LETI와 그래노블 알프스 대학교는 실리콘 기반의 나노공명기를 시스템에 삽입하여, 작동 중에 틈틈히 측정 결과에 영향을 미칠 수 있는 변수들을 수시로 점검하고, 수정하는 새로운 접근법을 고안하였다. NEMS는 나노 수준의 데이터를 측정하기 때문에, 굉장히 작은 변수의 변화도 측정 결과에서는 그 영향이 크기 때문에, 문제가 되어왔다. 실리콘 기반의 나노공명 삽입이라는 새로운 해결책을 제안하였다는 점에서 본 연구의 의의가 크며, 따라서 본 연구는 저명한 학술지인 #39;Nature nanotechnology #39;에 소개되었다. |
