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지문 센서 보호층의 두께 검출방법 및 시스템

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기관명	NDSL
출원인	선전 구딕스 테크놀로지 컴퍼니, 리미티드
출원번호	10-2017-7022870
출원일자	2017-08-16
공개번호	20170914
공개일자	0000-00-00
등록번호
등록일자	0000-00-00
권리구분	KUPA
초록	본 발명의 실시예는 지문 센서의 검출 기술분야에 관한 것으로, 특히 지문 센서 보호층의 두께 검출방법 및 시스템에 관한 것이다. 상기 지문 센서 보호층의 두께 검출방법은, 단계(a): 지문 센서를 통해 지문 데이터를 수집하는 단계; 단계(b): 상기 지문 데이터의 도함수를 계산하고, 지문 데이터의 도함수를 정규화하고, 정규화된 지문 데이터의 도함수에 따라 지문 센서의 적분을 계산하는 단계; 단계(c): 지문 센서 적분에 따라 지문 센서의 보호층 두께를 계산하여 얻는 단계;를 포함한다. 본 발명의 실시예의 지문 센서 보호층의 두께 검출방법 및 시스템은 지문 센서가 자체적으로 수집한 지문 데이터를 통해 센서의 보호층 두께를 계산하므로, 지문 센서를 파손하지 않는 전제하에 센서 보호층의 두께를 측정할 수 있고, 양산 시 각각의 센서를 모두 측정할 수 있어, 보다 나은 제품의 품질 관리에 도움이 되고, 측정 비용이 낮다.
원문URL	http://click.ndsl.kr/servlet/OpenAPIDetailView?keyValue=03553784&target=KUPA&cn=KOR1020177022870
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