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특허/실용신안

비행시간이차이온질량분광법 이미징을 이용한 나노입자상의 물질간의 결합 평가방법

특허 실용신안 개요

기관명, 출원인, 출원번호, 출원일자, 공개번호, 공개일자, 등록번호, 등록일자, 권리구분, 초록, 원본url, 첨부파일 순으로 구성된 표입니다.
기관명 NDSL
출원인 한국표준과학연구원
출원번호 10-2007-0128074
출원일자 2007-12-11
공개번호 20090622
공개일자 2010-06-15
등록번호 10-0963539-0000
등록일자 2010-06-07
권리구분 KPTN
초록 본 발명의 비행시간이차이온질량분광법(TOF-SIMS; Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry)의 이미징을 이용한 물질간의 결합 평가방법은 a) 유기, 바이오 또는 무기 물질에서 선택된 결합물질 및 상기 결합물질이 결합된 나노입자를 함유하는 복합체로 기판 상에 자발적으로 패턴을 형성시키는 단계; b) 비행시간이차이온질량분광법을 이용하여 기판 상 위치에 따른 상기 결합물질 및 상기 나노입자의 이온 검출 패턴을 각각 얻는 단계; 및 c) 상기 결합물질의 이온 검출 패턴과 상기 나노입자의 이온 검출 패턴을 비교하여 상기 결합물질과 상기 나노입자의 결합여부를 판별하는 단계를 포함하여 수행된다. 본 발명의 두 물질간의 평가방법은 나노입자와 유기, 무기 또는 바이오 물질간의 결합 여부를 평가할 수 있으며, 나노입자에 결합된 유기-무기, 무기-무기, 유기-유기 또는 유기-바이오 물질간의 결합 여부 또한 평가할 수 있으며, 결합의 정도 및 결합된 물질의 양에 대한 정성, 정량 분석이 가능하며, 결합이 진행되는 과정에 대한 판별 또한 가능하다. 무엇보다, 다단계의 결합 및 치환이 수반되는 경우, 각 단계별로 특정 물질의 결합(또는 치환) 여부 및 결합(또는 치환)된 물질의 종류를 알 수 있을 뿐 아니라, 다른 물질의 결합(또는 치환)으로 나노입자에서 떨어져 나간 후에도 여전히 정제 되지 않고 용액에 남아 있는 물질도 존재 여부를 확인할 수 있고, 이를 두 물질간 결합의 공간 분포에 따라 평가할 수 있다.
원문URL http://click.ndsl.kr/servlet/OpenAPIDetailView?keyValue=03553784&target=KPTN&cn=KOR1020070128074
첨부파일

추가정보

과학기술표준분류, ICT 기술분류, IPC분류체계CODE, 주제어 (키워드) 순으로 구성된 표입니다.
과학기술표준분류
ICT 기술분류
IPC분류체계CODE G01N-033/53,G01N-033/48
주제어 (키워드)