특허 | 기업공감원스톱서비스

특허

물리량 계측 장치 및 물리량 계측 방법

기관명, 출원인, 출원번호, 출원일자, 공개번호, 공개일자, 등록번호, 등록일자, 권리구분, 초록, 원본url, 첨부파일 순으로 구성된 표입니다.
기관명	NDSL
출원인	아사히 가세이 일렉트로닉스 가부시끼가이샤
출원번호	10-2011-7011438
출원일자	2011-05-19
공개번호	20110630
공개일자	2013-05-24
등록번호	10-1267163-0000
등록일자	2013-05-16
권리구분	KPTN
초록	측정 대상인 벡터 물리량의 크기가 균일한 공간에서 취득된 측정 데이터군이 아니어도, 상황에 따라 신속하게 또는 고정밀도로 신뢰성이 높은 오프셋을 추정하여, 추정되는 오프셋의 신뢰성을 한층 더 향상시키는 것을 가능하게 한다.차분 벡터군을 이용한 소정의 평가식에 기초하여, 취득한 벡터 물리량 데이터군에 포함되는 오프셋을 통계적 방법에 의해 추정한다.오프셋 추정은, 벡터 물리량 데이터군과, 차분 벡터군과, 추정된 복수의 기준점 중 적어도 하나에 기초하여, 기준점의 신뢰성 정보를 산출하기 위한 산출 파라미터에 따라서, 기준점의 신뢰성 정보를 산출하고, 그 신뢰성 정보를 판정 임계값과 비교함으로써 기준점의 신뢰성의 유무를 판정하고, 신뢰성 있음으로 판정된 기준점을 데이터 취득 수단이 취득한 벡터 물리량 데이터에 포함되는 오프셋으로서 출력한다.
원문URL	http://click.ndsl.kr/servlet/OpenAPIDetailView?keyValue=03553784&target=KPTN&cn=KOR1020117011438
첨부파일