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특허/실용신안

X선 촬상 방법 및 X선 촬상 시스템

특허 실용신안 개요

기관명, 출원인, 출원번호, 출원일자, 공개번호, 공개일자, 등록번호, 등록일자, 권리구분, 초록, 원본url, 첨부파일 순으로 구성된 표입니다.
기관명 NDSL
출원인 하마마츠 포토닉스 가부시키가이샤
출원번호 10-2009-7007059
출원일자 2009-04-06
공개번호 20090803
공개일자 2014-03-17
등록번호 10-1375404-0000
등록일자 2014-03-11
권리구분 KPTN
초록 X선상을 광상으로 변환하는 신틸레이터 및 신틸레이터에서 생성된 광상을 검출하여 X선 관찰 화상을 취득하는 촬상 소자를 포함하는 X선 촬상 장치(10)와, 제1 노이즈 화상 성분을 포함하는 제1 X선 관찰 화상과, 제2 노이즈 화상 성분을 포함하는 제2 X선 관찰 화상 사이에서 감산 처리를 행하여, 노이즈 화상을 생성하는 제1 감산기(25)와, 노이즈 화상에 대하여 문턱값 처리를 행하여, 제1 노이즈 화상 성분을 추출하는 문턱값 처리 회로(26)와, 제1 X선 관찰 화상으로부터, 추출된 제1 노이즈 화상 성분을 감산함으로써 노이즈 제거 화상을 생성하는 제2 감산기(27)를 구비하여 X선 촬상 시스템(1A)을 구성한다. 이에 의해, X선 관찰 화상을 노이즈 화상 성분의 영향이 저감된 상태에서 바람직하게 취득하는 것이 가능한 X선 촬상 방법 및 X선 촬상 시스템이 실현된다.
원문URL http://click.ndsl.kr/servlet/OpenAPIDetailView?keyValue=03553784&target=KPTN&cn=KOR1020097007059
첨부파일

추가정보

과학기술표준분류, ICT 기술분류, IPC분류체계CODE, 주제어 (키워드) 순으로 구성된 표입니다.
과학기술표준분류
ICT 기술분류
IPC분류체계CODE A61B-006/00,G01T-001/20,G01T-007/00,G06T-005/50
주제어 (키워드)