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특허/실용신안

파면 수차 및 거리 측정 위상 카메라

특허 실용신안 개요

기관명, 출원인, 출원번호, 출원일자, 공개번호, 공개일자, 등록번호, 등록일자, 권리구분, 초록, 원본url, 첨부파일 순으로 구성된 표입니다.
기관명 NDSL
출원인 유니버시다드 데 라 라구나
출원번호 10-2008-7020371
출원일자 2008-08-20
공개번호 20081222
공개일자 2014-06-17
등록번호 10-1408760-0000
등록일자 2014-06-11
권리구분 KPTN
초록 수렴 렌즈의 초점에 위치한 마이크로렌즈를 갖는 위상 카메라로 이루어지고, 카메라 데이터는 결합된 푸리에 '슬라이스' 및 고속 푸리에 변환 에지 검출 기술을 사용하여 처리되는 시스템은, 넓은 범위의 체적 내에서 3차원 파면 맵과 실제 장면 깊이 맵을 모두 제공한다. 본 발명은, 지구-기반의 천문 관측, 안과 등과 같이 파면을 알필요가 있는 임의의 분야와, 예컨대 실제 장면, CCD 연마, 자동차 기계학 등의 도량형을 필요로 하는 분야에 이용하기에 적합하다. 본 발명은 ELTs(대구경 망원경 : 50 또는 100 m)를 사용하는 대기 단층촬영의 특수한 경우에 적용된다.
원문URL http://click.ndsl.kr/servlet/OpenAPIDetailView?keyValue=03553784&target=KPTN&cn=KOR1020087020371
첨부파일

추가정보

과학기술표준분류, ICT 기술분류, IPC분류체계CODE, 주제어 (키워드) 순으로 구성된 표입니다.
과학기술표준분류
ICT 기술분류
IPC분류체계CODE G01J-001/52,G01J-001/02
주제어 (키워드)