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특허/실용신안

세포별 흡광 이미지 분석을 이용한 세포사멸 정량분석법

특허 실용신안 개요

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기관명 NDSL
출원인 한양대학교 산학협력단
출원번호 10-2010-0136734
출원일자 2010-12-28
공개번호 20110713
공개일자 2013-06-14
등록번호 10-1272884-0000
등록일자 2013-06-03
권리구분 KPTN
초록 본 발명은 흡광 이미지 분석을 이용한 세포사멸 정량분석법에 관한 것으로, 보다 구체적으로는 화학시료에 노출되어 세포사멸이 유도된 단일 세포층에 흡광염료 처리를 한 후 형성된 이미지를 촬영하고 각세포별 흡광도를 정량적으로 분석하는 세포사멸 정량분석법에 관한 것이다. 본 발명에 따르면 세포별 흡광 및 형태 인자의 다중변수분석을 이용하여 정상세포와 대비하여 개별 세포가 퇴화되는 사멸의 과정을 MTT 검색법등 기존의 흡광기반 세포 사멸 분석법들에 비하여 보다 정확하게 정량화 할 수 있으므로 고효율, 고집적도의 세포기반 미세유체칩, 신약개발시 사전 인 비트로 스크리닝(in-vitro screening) 장치, 유해 화학물질 세포독성 평가장치 등으로 활용될 수 있다.
원문URL http://click.ndsl.kr/servlet/OpenAPIDetailView?keyValue=03553784&target=KPTN&cn=KOR1020100136734
첨부파일

추가정보

과학기술표준분류, ICT 기술분류, IPC분류체계CODE, 주제어 (키워드) 순으로 구성된 표입니다.
과학기술표준분류
ICT 기술분류
IPC분류체계CODE C12Q-001/06,G01N-033/52
주제어 (키워드)