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특허/실용신안

형광 X-선 스펙트럼의 잡음 특성 분석 방법

특허 실용신안 개요

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기관명 NDSL
출원인 전북대학교산학협력단
출원번호 10-2012-0030524
출원일자 2012-03-26
공개번호 20130614
공개일자 2013-06-12
등록번호 10-1273714-0000
등록일자 2013-06-04
권리구분 KPTN
초록 형광 X-선 스펙트럼의 잡음 특성 분석 방법을 공개한다.본 발명은 형광 X-선 검출기가, 형광 X-선 스펙트럼의 잡음 특징을 분석하기 위해 기설정된 물질을 기설정된 비율로 조합한 표준 시료에X-선을 조사하고, 기설정된 시간동안 시료로부터 발생되는 형광 X-선의 에너지를 기설정된 시간 동안 에너지 레벨에 따라 복수개의 채널로 구분하여 카운트하여 형광 X-선 스펙트럼을 획득하는 과정을 복수 횟수로 수행하는 단계, 복수개의 채널 각각에 대해 형광 X-선 에너지가 형광 X-선 검출기에 검출된 실제 카운트 수( )를 푸아송 분포 함수에 대입하여, 기설정된 시간 동안의 기대 카운트 수( )가 관찰될 확률을 계산하는 단계, 실제 카운트 수( )의 표준 편차( )를 계산하는 단계, 및 표준 시료의 표준 편차( )인 기대 카운트 수( )의 제곱근을 실제 카운트 수( )의 표준 편차( )에 근사하여, 형광 X-선 스펙트럼에 포함된 형광 X-선 신호의 잡음을 계산하는 단계를 포함한다.
원문URL http://click.ndsl.kr/servlet/OpenAPIDetailView?keyValue=03553784&target=KPTN&cn=KOR1020120030524
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