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특허/실용신안

온도 특성을 가진 회로 구성원의 비정상 신호 분석을 위한 확률론적 오류 진단 방법 및 그 시스템

특허 실용신안 개요

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기관명 NDSL
출원인 ,
출원번호 10-2008-0132419
출원일자 2008-12-23
공개번호 20100511
공개일자 2010-05-04
등록번호 10-0956215-0000
등록일자 2010-04-27
권리구분 KPTN
초록 온도 특성을 가진 회로 구성원의 비정상 신호 분석을 위한 확률론적 오류 진단 방법 및 그 시스템을 개시한다.확률론적 오류 진단 시스템은 원전 사고관리를 위한 계측기기의 오류 진단 시스템에 있어서, 상기 계측기기의 회로 구성원에 대한 모의 등가회로를 구성하고 상기 모의 등가회로로부터 온도 변화에 따른 모의 신호를 획득하는 등가회로 모델링부; 상기 등가회로 모델링부에서 획득한 상기 모의 신호를 분석하여 상기 모의 신호에 따른 접근 공정 정보를 제공하는 신호 분석부; 및, 상기 모의 신호와 접근 공정 정보를 연계한 확률론적 오류 진단 알고리즘을 통해 상기 회로 구성원의 다중 구성소자의 상태 전이와 시스템 상태를 추산하여 상기 계측기기의 비정상 신호에 대한 확률 오류 진단을 수행하는 오류 진단부를 포함할 수 있다.
원문URL http://click.ndsl.kr/servlet/OpenAPIDetailView?keyValue=03553784&target=KPTN&cn=KOR1020080132419
첨부파일

추가정보

과학기술표준분류, ICT 기술분류, IPC분류체계CODE, 주제어 (키워드) 순으로 구성된 표입니다.
과학기술표준분류
ICT 기술분류
IPC분류체계CODE G06F-011/34,G06F-011/30,G06F-009/44
주제어 (키워드)