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특허/실용신안

물리량 계측 장치 및 물리량 계측 방법

특허 실용신안 개요

기관명, 출원인, 출원번호, 출원일자, 공개번호, 공개일자, 등록번호, 등록일자, 권리구분, 초록, 원본url, 첨부파일 순으로 구성된 표입니다.
기관명 NDSL
출원인 아사히 가세이 일렉트로닉스 가부시끼가이샤
출원번호 10-2011-7011438
출원일자 2011-05-19
공개번호 20110630
공개일자 2013-05-24
등록번호 10-1267163-0000
등록일자 2013-05-16
권리구분 KPTN
초록 측정 대상인 벡터 물리량의 크기가 균일한 공간에서 취득된 측정 데이터군이 아니어도, 상황에 따라 신속하게 또는 고정밀도로 신뢰성이 높은 오프셋을 추정하여, 추정되는 오프셋의 신뢰성을 한층 더 향상시키는 것을 가능하게 한다.차분 벡터군을 이용한 소정의 평가식에 기초하여, 취득한 벡터 물리량 데이터군에 포함되는 오프셋을 통계적 방법에 의해 추정한다.오프셋 추정은, 벡터 물리량 데이터군과, 차분 벡터군과, 추정된 복수의 기준점 중 적어도 하나에 기초하여, 기준점의 신뢰성 정보를 산출하기 위한 산출 파라미터에 따라서, 기준점의 신뢰성 정보를 산출하고, 그 신뢰성 정보를 판정 임계값과 비교함으로써 기준점의 신뢰성의 유무를 판정하고, 신뢰성 있음으로 판정된 기준점을 데이터 취득 수단이 취득한 벡터 물리량 데이터에 포함되는 오프셋으로서 출력한다.
원문URL http://click.ndsl.kr/servlet/OpenAPIDetailView?keyValue=03553784&target=KPTN&cn=KOR1020117011438
첨부파일

추가정보

과학기술표준분류, ICT 기술분류, IPC분류체계CODE, 주제어 (키워드) 순으로 구성된 표입니다.
과학기술표준분류
ICT 기술분류
IPC분류체계CODE G01P-015/00,G01P-013/00,G01C-017/38,G01P-021/00
주제어 (키워드)