물리량 계측 장치 및 물리량 계측 방법
기관명 | NDSL |
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출원인 | 아사히 가세이 일렉트로닉스 가부시끼가이샤 |
출원번호 | 10-2011-7011438 |
출원일자 | 2011-05-19 |
공개번호 | 20110630 |
공개일자 | 2013-05-24 |
등록번호 | 10-1267163-0000 |
등록일자 | 2013-05-16 |
권리구분 | KPTN |
초록 | 측정 대상인 벡터 물리량의 크기가 균일한 공간에서 취득된 측정 데이터군이 아니어도, 상황에 따라 신속하게 또는 고정밀도로 신뢰성이 높은 오프셋을 추정하여, 추정되는 오프셋의 신뢰성을 한층 더 향상시키는 것을 가능하게 한다.차분 벡터군을 이용한 소정의 평가식에 기초하여, 취득한 벡터 물리량 데이터군에 포함되는 오프셋을 통계적 방법에 의해 추정한다.오프셋 추정은, 벡터 물리량 데이터군과, 차분 벡터군과, 추정된 복수의 기준점 중 적어도 하나에 기초하여, 기준점의 신뢰성 정보를 산출하기 위한 산출 파라미터에 따라서, 기준점의 신뢰성 정보를 산출하고, 그 신뢰성 정보를 판정 임계값과 비교함으로써 기준점의 신뢰성의 유무를 판정하고, 신뢰성 있음으로 판정된 기준점을 데이터 취득 수단이 취득한 벡터 물리량 데이터에 포함되는 오프셋으로서 출력한다. |
원문URL | http://click.ndsl.kr/servlet/OpenAPIDetailView?keyValue=03553784&target=KPTN&cn=KOR1020117011438 |
첨부파일 |
과학기술표준분류 | |
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ICT 기술분류 | |
IPC분류체계CODE | G01P-015/00,G01P-013/00,G01C-017/38,G01P-021/00 |
주제어 (키워드) |