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특허/실용신안
불균일 검사 방법, 표시 패널의 제조 방법 및 불균일 검사장치
특허 실용신안 개요
| 기관명 | NDSL |
|---|---|
| 출원인 | 가부시끼가이샤 도시바 |
| 출원번호 | 10-2007-0090342 |
| 출원일자 | 2007-09-06 |
| 공개번호 | 20080509 |
| 공개일자 | 2008-06-25 |
| 등록번호 | 10-0841497-0000 |
| 등록일자 | 2008-06-19 |
| 권리구분 | KPTN |
| 초록 | 본 발명의 과제는 검사원에 의한 관능 검사의 결과에 가까운 결과를 얻을 수 있는 불균일 검사 방법, 이 불균일 검사 방법을 이용한 표시 패널의 제조 방법, 및 불균일 검사 장치를 제공하는 것이다. 패널재에 있어서의 불균일의 유무를 검사하는 불균일 검사 방법에 있어서, 검사 대상으로 되는 패널재를 복수 수준의 조건에서 촬상하고(스텝 S1), 이 촬상 결과로부터 복수매의 일차 화상을 취득하고(스텝 S2), 이들 일차 화상에 화상의 변화를 강조하는 처리를 실시하여 복수매의 이차 화상을 작성하고(스텝 S3), 이들 이차 화상을 소정의 가중치로 합성하여 합성 화상을 작성하고(스텝 S4), 이 합성 화상을 기초로 하여 불균일의 유무를 판정한다(스텝 S5). 그리고, 소정의 가중치를, 불균일이 발생하고 있는 교시용의 패널재에 대해 이차 화상을 작성하고, 이들 이차 화상을 합성하여 합성 화상을 작성했을 때에, 불균일이 발생하고 있는 영역과 그 이외의 영역을 구별할 수 있도록 결정한다. |
| 원문URL | http://click.ndsl.kr/servlet/OpenAPIDetailView?keyValue=03553784&target=KPTN&cn=KOR1020070090342 |
| 첨부파일 |
추가정보
| 과학기술표준분류 | |
|---|---|
| ICT 기술분류 | |
| IPC분류체계CODE | |
| 주제어 (키워드) |