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특허/실용신안

분광학적 타원해석법을 이용하는 타겟박막층의 밴드 갭 및 물리적 결함 측정 방법

특허 실용신안 개요

기관명, 출원인, 출원번호, 출원일자, 공개번호, 공개일자, 등록번호, 등록일자, 권리구분, 초록, 원본url, 첨부파일 순으로 구성된 표입니다.
기관명 NDSL
출원인 단국대학교 산학협력단
출원번호 10-2011-0053418
출원일자 2011-06-02
공개번호 20121214
공개일자 2013-05-13
등록번호 10-1261495-0000
등록일자 2013-04-30
권리구분 KPTN
초록 일 실시 예에 따르는 분광학적 타원해석법을 이용하는 타겟박막층의 밴드 갭 및 물리적 결함 측정 방법은 먼저 기판 및 상기 기판 상에 배치되는 타겟박막층을 포함하는 타겟물질을 준비한다. 타원해석기를 이용하여 상기 타겟물질에 편광된 광을 입사하고 상기 타겟물질로부터 반사되는 광의 엘립소메티리 측정값 (Δ,Ψ)을 획득한다. 상기 측정값 (Δ,Ψ)에 대하여 코시 함수를 이용하는 모델링을 수행하여 상기 타겟박막층의 두께를 산출한다. 상기 측정값 (Δ,Ψ)에 대한 상기 기판의 기여분을 제거한 결과 및 상기 산출된 상기 타겟박막층의 두께를 이용하여 상기 타겟박막층의 흡수 계수 그래프를 추출한다. 상기 흡수 계수 그래프과 피팅(fitting)을 이룰 수 있는 피팅 모델 함수를 결정한다. 상기 피팅 모델 함수와 상기 측정값 (Δ,Ψ)을 비교하여 피팅의 부합여부를 결정한다.
원문URL http://click.ndsl.kr/servlet/OpenAPIDetailView?keyValue=03553784&target=KPTN&cn=KOR1020110053418
첨부파일

추가정보

과학기술표준분류, ICT 기술분류, IPC분류체계CODE, 주제어 (키워드) 순으로 구성된 표입니다.
과학기술표준분류
ICT 기술분류
IPC분류체계CODE G01N-021/88,G01B-011/06
주제어 (키워드)