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특허/실용신안

대기중 산란광 동시 측정 장치

특허 실용신안 개요

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기관명 NDSL
출원인 황정배
출원번호 10-2009-0078426
출원일자 2009-08-24
공개번호 20110323
공개일자 0000-00-00
등록번호
등록일자 0000-00-00
권리구분 KUPA
초록 본 발명은 대기중 산란광 동시 측정 장치에 관한 것으로, 보다 상세하게는 대기중 다지점(다광경로)의 유해가스물질의 산란광을 동시에 분광학적으로 측정하기위하여 인공광원, 송광학계, 분광계, 입사광학계 및 컴퓨터를 구비한 대기중 산란광 동시 측정 장치에 관한 것이다. 본 발명에 따른 대기중 산란광 동시 측정 장치는, 대기중 다지점의 다종의 유해가스물질의 산란광들을 동시에 실시간 검출하는 장치에 있어서, 인공광원과; 인공광원의 광을 일정거리까지 평행광화하여 조사하는 송광학계와; 2차원 다채널검출기를 포함하는 자외선-가시광선-근적외선대역용 분광계와; 산란광을 집광하여 상기 분광계로 전달하기 위한 수광학계와;, 상기 분광계로 입사전에 다지점의 산란광들의 정렬과 특정대역의 산란광만을 선별하기 위한 필터링 수단의 입사광학계와; 자동 또는 반자동측정과 흡광차분광분석을 위한 컴퓨터를 포함하는 것을 특징으로 한다.
원문URL http://click.ndsl.kr/servlet/OpenAPIDetailView?keyValue=03553784&target=KUPA&cn=KOR1020090078426
첨부파일

추가정보

과학기술표준분류, ICT 기술분류, IPC분류체계CODE, 주제어 (키워드) 순으로 구성된 표입니다.
과학기술표준분류
ICT 기술분류
IPC분류체계CODE G01N-021/47,G01N-021/25
주제어 (키워드)