기업조회

본문 바로가기 주메뉴 바로가기

특허/실용신안

비편광 방출율 분해시스템 및 이를 이용한 굴절지수의 측정방법

특허 실용신안 개요

기관명, 출원인, 출원번호, 출원일자, 공개번호, 공개일자, 등록번호, 등록일자, 권리구분, 초록, 원본url, 첨부파일 순으로 구성된 표입니다.
기관명 NDSL
출원인 대한민국(기상청장)
출원번호 10-2010-0007112
출원일자 2010-01-26
공개번호 20110805
공개일자 0000-00-00
등록번호
등록일자 0000-00-00
권리구분 KUPA
초록 본 발명은 관측된 하나의 비편광 방출율을 이용하여 두 개의 편광 반사도들을 구하는 방법 및 시스템을 제공하는 기술에 관한 것이다. 본 발명에 따르면, 전자기파의 편광적 성질을 측정하는 센서에 적용되는 비편광 방출율 분해 시스템을 제공하되, 정반사성 표면에 반사되는 두 편광 성질에 의한 두개의 반사도를 측정하여 물질의 고유 성질인 굴절지수를 정밀하고 효율적으로 산출할 수 있는 효과가 있다.
원문URL http://click.ndsl.kr/servlet/OpenAPIDetailView?keyValue=03553784&target=KUPA&cn=KOR1020100007112
첨부파일

추가정보

과학기술표준분류, ICT 기술분류, IPC분류체계CODE, 주제어 (키워드) 순으로 구성된 표입니다.
과학기술표준분류
ICT 기술분류
IPC분류체계CODE G01N-021/41,G01J-004/00
주제어 (키워드)