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특허/실용신안

맵핑 분석 장치

특허 실용신안 개요

기관명, 출원인, 출원번호, 출원일자, 공개번호, 공개일자, 등록번호, 등록일자, 권리구분, 초록, 원본url, 첨부파일 순으로 구성된 표입니다.
기관명 NDSL
출원인 가부시키가이샤 시마즈세이사쿠쇼
출원번호 10-2009-0037897
출원일자 2009-04-30
공개번호 20091221
공개일자 2011-12-19
등록번호 10-1094549-0000
등록일자 2011-12-08
권리구분 KPTN
초록 본 발명은 과잉의 시간을 들이지 않고, 관찰 이미지 취득 수단의 시야에 관계없이, 맵핑의 관찰 범위와 동일한 시야의 광학적 관찰 이미지가, 위치 어긋남도 수반하지 않고 얻어지는 맵핑 분석 장치를 제공한다. 시료(11)의 표면에 복수 배열된 맵핑 단위 영역으로부터, 방출되는 맵 이미지용 신호를 검출하는 맵 이미지용 신호 검출 수단(X선 검출기)(28)과, 시료(11)의 표면의 광학적 관찰 이미지를 촬상하는 촬상 수단(22)과, 촬상 수단(22)의 출력 신호로부터 광학적 신호가 아닌 부분을 제거하는 신호 보간 추출 회로(23a)와, 맵 이미지용 신호 검출 수단(28) 및 신호 보간 추출 회로(23a)의 출력 신호를 저장하는 화상 메모리(25)와, 시료(11)를 이동시키고, 맵핑 단위 영역을 차례로 주사하는 X-Y 스테이지(12)와, X-Y 스테이지(12)의 움직임에 동기하여 맵 이미지용 신호 검출 수단(28) 및 신호 보간 추출 회로(23a)의 출력 신호를 화상 메모리(25)에 취입시키는 동기 제어 회로(27)를 구비한다.
원문URL http://click.ndsl.kr/servlet/OpenAPIDetailView?keyValue=03553784&target=KPTN&cn=KOR1020090037897
첨부파일

추가정보

과학기술표준분류, ICT 기술분류, IPC분류체계CODE, 주제어 (키워드) 순으로 구성된 표입니다.
과학기술표준분류
ICT 기술분류
IPC분류체계CODE G01N-023/223,G01T-001/36
주제어 (키워드)