X선 박막 검사장치와, 프로덕트 웨이퍼의 박막 검사장치 및 그 방법
기관명 | NDSL |
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출원인 | 가부시키가이샤 리가쿠 |
출원번호 | 10-2005-0100807 |
출원일자 | 2005-10-25 |
공개번호 | 20080509 |
공개일자 | 2012-07-04 |
등록번호 | 10-1162375-0000 |
등록일자 | 2012-06-27 |
권리구분 | KPTN |
초록 | 프로덕트 웨이퍼 등의 검사 대상을 배치하는 시료대와 시료대를 이동하는 위치결정기구와 제1,제 2 선회 암을 구비한 고니오메터와 제 1 선회아암에 탑재되고, 또한 실드 튜브내에 X선관 및 X선 광학소자를 내장한 적어도 한 개의 X선 조사 유닛과 제 2 선회아암에 탑재된 X선 검출기와, 시료대에 배치된 검사 대상을 화상 인식하기 위한 광학 카메라를 구비한다. |
원문URL | http://click.ndsl.kr/servlet/OpenAPIDetailView?keyValue=03553784&target=KPTN&cn=KOR1020050100807 |
첨부파일 |
과학기술표준분류 | |
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ICT 기술분류 | |
IPC분류체계CODE | |
주제어 (키워드) |