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특허/실용신안

간섭 채널 환경에서의 저밀도 패리티 검사를 이용한 오류 정정 방법 및 회로, 이를 이용한 플래시 메모리 장치

특허 실용신안 개요

기관명, 출원인, 출원번호, 출원일자, 공개번호, 공개일자, 등록번호, 등록일자, 권리구분, 초록, 원본url, 첨부파일 순으로 구성된 표입니다.
기관명 NDSL
출원인 한국과학기술원
출원번호 10-2012-0060605
출원일자 2012-06-05
공개번호 20131220
공개일자 2014-09-25
등록번호 10-1428849-0000
등록일자 2014-08-04
권리구분 KPTN
초록 간섭 채널 환경에서의 저밀도 패리티 검사를 이용한 오류 정정 방법 및 회로, 이를 이용한 플래시 메모리 장치를 공개한다.본 발명은 채널에 대한 통계적 분석이 이루어진 상기 채널을 통해 전송되는 신호의 오류 정정 방법에 있어서, 복수개의 신호가 수신되는 단계, 상기 복수개의 신호 중 제1 신호 이후 연속하여 수신되는 적어도 하나의 제2 신호에 의해 상기 제1 신호에 포함된 평균 간섭의 크기 및 임의 잡음의 크기가 상기 통계적 분석에 따라 계산되는 단계, 상기 제1 신호의 값이 상기 제1 신호에 포함된 평균 간섭의 크기 및 임의 잡음의 크기가 고려되는 대수 우도비를 이용하여 기생성된 대수 우도 비(LLR) 테이블을 통해 판별되는 단계, 및 값이 판별된 상기 제1 신호가 누적되고, 누적된 복수개의 상기 제1 신호의 값이 저밀도 패리티 검사 부호에 의해 정정되는 단계를 포함한다.따라서, 수신된 데이터의 값을 간섭의 영향을 미리 고려하여 연판정한 후, 저밀도 패리터 검사를 수행하므로 데이터를 정확하게 복구 할 수 있다.
원문URL http://click.ndsl.kr/servlet/OpenAPIDetailView?keyValue=03553784&target=KPTN&cn=KOR1020120060605
첨부파일

추가정보

과학기술표준분류, ICT 기술분류, IPC분류체계CODE, 주제어 (키워드) 순으로 구성된 표입니다.
과학기술표준분류
ICT 기술분류
IPC분류체계CODE G06F-011/10,G11C-029/42
주제어 (키워드)