| 기업공감원스톱서비스

양자점의 선택적 응집을 이용한 표적 물질의 탐지 방법

기관명, 출원인, 출원번호, 출원일자, 공개번호, 공개일자, 등록번호, 등록일자, 권리구분, 초록, 원본url, 첨부파일 순으로 구성된 표입니다.
기관명	NDSL
출원인	연세대학교 산학협력단
출원번호	10-2009-0043333
출원일자	2009-05-19
공개번호	20101206
공개일자	2011-05-20
등록번호	10-1035352-0000
등록일자	2011-05-11
권리구분	KPTN
초록	본 발명은 양자점의 선택적 응집을 이용한 표적 물질의 탐지 방법에 관한 것이다. 본 발명에 의하면, 표적 물질이 존재할 경우 양자점이 선택적으로 응집하는 현상을 이용함으로써 표적 물질이나 탐지 물질에 형광 물질을 태깅하거나, 나노입자를 표면 처리하는 등의 전처리 없이도 형광 감소 여부에 의해 표적 물질의 존재를 육안으로 쉽게 식별할 수 있게 된다. 따라서 본 발명의 방법을 이용하면 특별한 분석 기기 없이도 저비용으로 표적 물질을 쉽고 빠르게 탐지할 수 있어 매우 효율적이다. 특히, 본 발명의 방법을 DNA 내의 단일염기다형성의 분석에 이용할 경우 양자점의 응집이 일어나지 않는 점을 확인함으로써 신속하고 효율적으로 단일염기다형성의 존재 여부를 판별할 수 있으므로, 유전 질환의 진단 및 치료, 그리고 생물학적, 의학적 연구에서 매우 유용하게 이용될 수 있다.
원문URL	http://click.ndsl.kr/servlet/OpenAPIDetailView?keyValue=03553784&target=KPTN&cn=KOR1020090043333
첨부파일

기업조회