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인비보 인비트로 시험 겸용 나노 입자 노출 장치

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기관명	NDSL
출원인	(주)에이치시티
출원번호	10-2010-0126525
출원일자	2010-12-10
공개번호	20111209
공개일자	2011-12-06
등록번호	10-1088864-0000
등록일자	2011-11-25
권리구분	KPTN
초록	본 발명은 인비보 인비트로 시험 겸용 나노 입자 노출 장치에 관한 것으로, 보다 상세하게는 나노 입자에 대한 인비보 방식의 독성 평가 시험이 가능한 인비보 시험 유닛과, 인비트로 방식의 독성 평가 시험이 가능한 인비트로 시험 유닛을 구비하고, 하나의 입자 발생기로부터 발생된 나노 입자를 인비보 시험 유닛 및 인비트로 시험 유닛에 동시에 또는 선택적으로 공급하도록 함으로써, 나노 입자를 공급하는 시험 조건을 동일하게 유지한 상태로 2가지 시험을 동시에 또는 선택적으로 수행할 수 있어 나노 입자에 대한 독성 평가 시험이 용이할 뿐만 아니라 2가지 시험 방식에 대한 비교 결과를 더욱 정확하게 산출할 수 있는 인비보 인비트로 시험 겸용 나노 입자 노출 장치를 제공한다.
원문URL	http://click.ndsl.kr/servlet/OpenAPIDetailView?keyValue=03553784&target=KPTN&cn=KOR1020100126525
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