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밀폐형 순환구조를 갖는 반도체 램의 온도 평가 장치

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기관명	NDSL
출원인	주식회사 리빙케어
출원번호	10-2009-0058092
출원일자	2009-06-29
공개번호	20110110
공개일자	2011-06-30
등록번호	10-1045009-0000
등록일자	2011-06-22
권리구분	KPTN
초록	본 발명은 반도체 램의 평가방법에 있어서, 열전반도체를 이용하여 저온대역에서부터 고온대역까지 다양한 환경조건의 변화가 가능한 반도체 램 평가 장치를 제공하는 것이다. 또한 반도체 램의 평가과정 중에 외부환경의 영향을 최소화함으로써 외부조건에 의한 추가적 열손실을 방지하여 반도체 램 평가 장치의 에너지 효율을 향상시키며, 열전반도체를 이용한 온도제어장치에서 발생할 수 있는 수분의 응축을 방지하여 안정적이고 신뢰할 수 있는 반도체 램 평가 장치를 제공하고자 한다.
원문URL	http://click.ndsl.kr/servlet/OpenAPIDetailView?keyValue=03553784&target=KPTN&cn=KOR1020090058092
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