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특허/실용신안

통계적 품질 검사 및 관리 시스템

특허 실용신안 개요

기관명, 출원인, 출원번호, 출원일자, 공개번호, 공개일자, 등록번호, 등록일자, 권리구분, 초록, 원본url, 첨부파일 순으로 구성된 표입니다.
기관명 NDSL
출원인 (주)진성하이텍
출원번호 10-2010-0108036
출원일자 2010-11-02
공개번호 20120518
공개일자 2012-07-23
등록번호 10-1166101-0000
등록일자 2012-07-10
권리구분 KPTN
초록 본 발명은 통계적 품질 검사 및 관리 시스템에 관한 것으로, 자세하게는 TV, 에어컨 등의 가전 기기, 프레스, 밀링 등의 공작 기계, 개인용 컴퓨터, 서버, 자동차 등의 각종 전자 제품, 기계 등의 품질을 외부의 제1 단말기를 통하여 계측하고 서버를 통하여 통계적으로 분석하여 사용자의 단말기로 제공함으로써 상기 각종 전자 제품 및 기계 등의 품질을 검사 및 관리할 수 있는 통계적 품질 검사 및 관리 시스템에 관한 것으로, 자세하게는 ① 전력 정보 수집부, 오배선 정보 수집부, 조명의 점등 여부를 감지하는 조명 점등 정보 수집부 또는 발열 정보 수집부를 포함하는 일 군의 정보 수집부 중 적어도 일 이상을 포함하는 제1 단말기(정보수집기, DAQ, data acquisition)와, ② 상기 제1 단말기로 제어 명령을 전송하여 상기 제1 단말기의 구동을 제어하고, 상기 제1 단말기로부터 수집된 상기 제품 관련 정보를 수신하고, 상기 수신된 제품 관련 정보에 대한 통계적 분석을 수행하고, 상기 제품 관련 정보 및 상기 통계적 분석에 의한 결과 데이터를 상기 외부의 제2 단말기로 전송하는 서버 및 ③ 상기 서버로 송신되는 명령을 사용자로부터 입력받고, 상기 사용자에게 상기 서버로부터 수신된 상기 제품 관련 정보 및 상기 통계적 분석에 의한 결과 데이터를 표시하는, 그래픽 유저 인터페이스(User interface)를 구비한 제2 단말기를 포함하는 통계적 품질 검사 및 관리 시스템인 것을 특징으로 한다.
원문URL http://click.ndsl.kr/servlet/OpenAPIDetailView?keyValue=03553784&target=KPTN&cn=KOR1020100108036
첨부파일

추가정보

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