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X선 촬영법에 의한 X선 촬상을 위한 광학 위치 맞춤 시스템 및 위치 맞춤 방법

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기관명	NDSL
출원인	리플렉티브 엑스-레이 옵틱스 엘엘씨
출원번호	10-2010-7019018
출원일자	2010-08-26
공개번호	20101011
공개일자	2012-05-02
등록번호	10-1140199-0000
등록일자	2012-04-19
권리구분	KPTN
초록	X선 촬상(撮像) 장치를 위한 광학 위치 맞춤 시스템은, 가시광 점원(點源)과, 그것을 위한 다축 포지셔너(positioner)이고, X선 초점 스폿(spot)에 대하여 고정하여 장착되는 것을 포함한다. 미러 또는 빔 스플리터(beamsplitter)가 X선 초점 스폿에 대하여 고정하여 장착되고, X선원의 빔 통로에 배치된다. 빔 스플리터는 광원으로부터 방출되는 빛을 반사하여, X선원(線源)으로부터 방출되는 X선을 전달한다. 제1 X선 감쇠 그리드(grid)는, X선원에 대하여 고정하고, 또한 떼어냄 가능하게 장착 가능하고, 제1 X선 감쇠 패턴을 가진다. 제2 X선 감쇠 그리드는, 제1 그리드에 대하여 조정 가능하고 또한 장착 가능하고, 제1 X선 감쇠 패턴에 대응하는 제2 X선 감쇠 패턴을 가진다. 그리드가 위치 맞춤될 때에, 감쇠 패턴도 또한 위치 맞춤되고, X선원으로부터의 X선과 빔 스플리터로부터 반사되는 빛이 그들을 통과하는 것을 가능하게 한다.
원문URL	http://click.ndsl.kr/servlet/OpenAPIDetailView?keyValue=03553784&target=KPTN&cn=KOR1020107019018
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