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특허/실용신안

성토층의 상대밀도 측정장치 및 이를 이용한 성토층의 상대밀도 측정방법

특허 실용신안 개요

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기관명 NDSL
출원인 고려대학교 산학협력단
출원번호 10-2010-0083152
출원일자 2010-08-26
공개번호 20120504
공개일자 2013-03-12
등록번호 10-1242681-0000
등록일자 2013-03-06
권리구분 KPTN
초록 본 발명은 성토층의 상대밀도 측정장치 및 이를 이용한 성토층의 상대밀도 측정방법에 관한 것으로서, 본 발명에 따른 성토층의 상대밀도 측정장치는 1) 이동식 카트, 2) 상기 이동식 카트의 하부에 구비되고, 성토층의 전기비저항을 측정하는 전극부, 및 3) 상기 이동식 카트의 상부에 구비되고, 상기 전극부에서 측정된 성토층의 전기비저항을 분석하여 성토층의 상대밀도를 계산하는 계측부를 포함한다. 본 발명에 따른 성토층의 상대밀도 측정장치 및 이를 이용한 성토층의 상대밀도 측정방법은 스캔 방식의 밀도평가 방법으로서 종래의 고정위치(one point) 방식의 한계를 극복하여 이동식으로써 성토층 전 구역의 상대밀도를 평가할 수 있다. 또한, 성토층의 정확한 특성을 반영하여 과다짐의 가능성을 배제하여 경제적 설계를 도모할 수 있으며, 불확실하고 애매모호한 노상 및 보조기층의 충분한 지지력을 확보할 수 있다. 이에 따라, 노반의 엄격한 품질관리 기준을 준수하여 시공 및 유지관리 측면에서 비용을 절약할 수 있도록 도모할 수 있다.
원문URL http://click.ndsl.kr/servlet/OpenAPIDetailView?keyValue=03553784&target=KPTN&cn=KOR1020100083152
첨부파일

추가정보

과학기술표준분류, ICT 기술분류, IPC분류체계CODE, 주제어 (키워드) 순으로 구성된 표입니다.
과학기술표준분류
ICT 기술분류
IPC분류체계CODE E02D-001/02,G01N-009/00
주제어 (키워드)