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논문 기본정보
TX-선을 이용한 행성표면 분석기술과 향후 연구동향
논문 개요
| 기관명 | NDSL |
|---|---|
| 저널명 | 암석학회지 = The Journal of the Petrological Society of Korea |
| ISSN | 1226-2471, |
| ISBN |
논문저자 및 소속기관 정보
| 저자(한글) | 김경자,이주희,이승렬,심은섭 |
|---|---|
| 저자(영문) | |
| 소속기관 | |
| 소속기관(영문) | |
| 출판인 | |
| 간행물 번호 | |
| 발행연도 | 2010-01-01 |
| 초록 | 오늘날 X-선을 이용한 표면탐사기술은 널리 활용되는 기술의 하나이다. 또한 X-선 측정기술은 행성표면탐사를 위한 연구에서도 궤도선 및 주행장치 탑재용 과학장비로서도 성공적으로 활용된 예가 여러 차례 있었다. 우리나라는 2020년경 궤도선 및 착륙선을 이용한 달 탐사계획을 추진하고 있으며, 이에 맞추어 궤도 및 착륙선 탑재용 우선 순위 과학장비의 개발 및 달에 관한 기초연구를 해야 하는 실정이다. 따라서 X-선 측정기술을 이용한 행성탐사의 현황 및 이 분야의 기술 발전 전망에 대한 고찰을 하였다. |
| 원문URL | http://click.ndsl.kr/servlet/OpenAPIDetailView?keyValue=03553784&target=NART&cn=JAKO201016450103637 |
| 첨부파일 |
추가정보
| 과학기술표준분류 | |
|---|---|
| ICT 기술분류 | |
| DDC 분류 | |
| 주제어 (키워드) | X-선,형광 X-선,행성탐사,화성,달,표면탐사,우주미션,X-ray,X-ray Flouresence,planetary Exploration,Mars,Moon,Surface Exploration,space mission |