| 초록 |
엽면적 지수(leaf area index, LAI)와 엽각 분포(leaf angle distribution, LAD)는 식생의 수관층 구조를 연구하는데 이용되는 중요한 파라미터로서, 일정한 정량관계를 갖고 있다. 자작나무(Betula platyphylla) 단순림을 연구대상으로, 단선-멀티 앵글(single line, multi-angle)에 기반한 관측 결과, Norman과 Campbell의 선형 최소제곱 반전(inversion)기술(NC 기술) 및 Compbell 모델 등 3가지 기법을 결합하여, LAI와 LAD 사이의 정량관계를 분석하였다. NC 기술로 엽각 분포를 잘 반전할 수 있었으며, 실제로 측정한 엽각 분포에 대한 해석 능력은 무려 90% 이상에 달하였다. NC 기술에 근거하여 계산한 엽각 확률 밀도는 실제보다 컸으나, Campbell 모델로 진행한 시뮬레이션 결과는 실제보다 작았는데, 특히 [0°,10°] 구간에서 더 뚜렷하였다. 2가지 기술은 어느 정도의 상호보완 관계를 갖고 있었다. 2가지 기술로 계산한 결과의 평균값을 취하였을 때, 실제로 측정한 엽각 분포에 대한 해석 능력이 어느 정도 향상되었으며, 무려 96% 이상에 달하였다. 이밖에, 멀티 앵글 측정법 중 NC 기술을 이용하여 반전을 진행할 때, 엽각 분포 구간의 수를 관측 태양 천정각(solar zenith angle) 수의 1/2을 취하는 것이 가장 적합하였다. 본 연구는 LAI와 LAD의 간접 측정을 위하여 기법을 제공하는 동시에, 큰 범위의 LAI 를 측정하는데 있어 검증 방법을 제공하였으며, 또 정량 원격탐사 모델의 파라미터를 최적하는데 이론적 근거를 제공하였다. |
