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논문 기본정보
비전 이미지 프로세싱을 이용한 외관검사가 가능한 기계시스템 및 비전 알고리즘 개발
논문 개요
| 기관명 | NDSL |
|---|---|
| 저널명 | 한국산학기술학회논문지 = Journal of the Korea Academia-Industrial cooperation Society |
| ISSN | 1975-4701,2288-4688 |
| ISBN |
논문저자 및 소속기관 정보
| 저자(한글) | 김영춘,김영만,김성길,김홍배,조문택 |
|---|---|
| 저자(영문) | |
| 소속기관 | |
| 소속기관(영문) | |
| 출판인 | |
| 간행물 번호 | |
| 발행연도 | 2016-01-01 |
| 초록 | 본 논문에서는 저가의 카메라를 활용하여 육안 검사로 해왔던 c-tray와 관련된 불량을 비전 이미지 기술을 활용하여 자동으로 검사하였으며, 4대 검사항목인 트레이내 디바이스 겹침, 트레이 휨, 트레이 적재수량, 트레이내 디바이스 포켓 이탈 등 불량유형을 define 및 검출하는 알고리즘을 개발하였다. 따라서, 개발한 헨들링 시스템으로 인해 c-tray의 스택이나 기타 포장 공정에서의 수량 확인 공정 등에 확대 적용이 가능하였다. 그리고 제어를 활용한 비전 이미지를 처리하고 사용자 gui를 처리하는 제어프로그램과 스캔 속도에 맞춰 최적의 검사 이미지를 확보할 수 있는 기계 작동제어 프로그램을 개발하여 비전 데이터 처리와 이미지 획득이 가능한 기계 시스템을 설계하였다. |
| 원문URL | http://click.ndsl.kr/servlet/OpenAPIDetailView?keyValue=03553784&target=NART&cn=JAKO201609562998185 |
| 첨부파일 |
추가정보
| 과학기술표준분류 | |
|---|---|
| ICT 기술분류 | |
| DDC 분류 | |
| 주제어 (키워드) | Camera,C-tray,Overlapping,Algorithm,Scan speed,Vision data |