Alignment Marker 고속 인식 및 위치 보정 방법
기관명 | NDSL |
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저널명 | 정보처리학회논문지. KIPS transactions on software and data engineering. 소프트웨어 및 데이터 공학 |
ISSN | 2287-5905, |
ISBN |
저자(한글) | 문창배,김현수,김현용,이동원,김태훈,정해,김병만 |
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저자(영문) | |
소속기관 | |
소속기관(영문) | |
출판인 | |
간행물 번호 | |
발행연도 | 2016-01-01 |
초록 | 얼라인(Align) 보정은 제품 생산 전/후 빈번하게 사용되는 머신비전 기술 중 하나이다. 본 논문에서는 생산품에 각인된 마커(Marker) 또는 생산품에 존재하는 유니크한 패턴을 이용하여 생산품의 각도와 위치를 고속으로 판별하고 보정하는 방법을 제안하였다. 본 논문에서 사용한 방법은 템플릿매칭(Template Matching)의 속도를 개선한 적분 히스토그램(Integral Histogram)의 변형을 이용하여 후보들을 추출하고, 클러스터링을 적용하여 후보들을 축소하는 방법을 적용 후 마커의 각도와 위치를 판별하는 방법을 제안하였다. 실험결과, 클러스터링을 적용하기 전 보다 클러스터링을 적용 후 약 5s 719ms 개선된 것을 알 수 있었고, 각도 판별에서도 우수한 성능을 보임을 확인할 수 있었다. |
원문URL | http://click.ndsl.kr/servlet/OpenAPIDetailView?keyValue=03553784&target=NART&cn=JAKO201606050646415 |
첨부파일 |
과학기술표준분류 | |
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ICT 기술분류 | |
DDC 분류 | |
주제어 (키워드) | 얼라인먼트 마커,템플릿 매칭,구간 히스토그램,후보 클러스터링,프로젝션 적분 히스토그램,Alignment Marker,Template Matching,Integral Histogram,Candidate Clustering,Projection Integral Histogram |