X-선 형광분석기
기관명 | ZEUS |
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장비번호 | |
제작사 | 시마즈 |
모델명 | XRF-1700 |
장비사양 | |
취득일자 | 1999-12-30 |
취득금액 |
보유기관명 | 부경대학교 대연캠퍼스 |
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활용범위 | |
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표준분류명 | |
시설장비 설명 | 특징 X-선에 의해 여기 또는 전리된 각각의 원소들에서 발생되는 이차 X-선(형광 X-선) 을 분광시켜 검출되는 X-선의 파장과 강도에 따라 원소의 정성 및 정량분석을 한 다.구성및성능 1.측정범위 : B(Boron) ~ U(Uranium) 원소 또는 산화물형태로 결과 출력 2.측정면적 : 직경 1mm ~ 30mm 크기별 측정가능 3.4kW Rh-Ka X-ray Tube 4.정성 정성ㆍ정량 정량 및 mapping 분석 가능 5.8개의 시료를 장착할 수 있는 자동 Sample Stage활용분야 1.pellet 제작 분말시료 정성 및 정성ㆍ정량분석 2. 유리비드 제작 지질시료 정량분석 3. 1mm 격자 단위 mapping 분석 |
장비이미지코드 | http://nfec.ntis.go.kr/storage/images/equip/photo/200712/.thumb/20071218161318.bmp |
장비위치주소 | 공동실험실습관 512호 |
NFEC 등록번호 | NFEC-2007-12-051490 |
예약방법 | |
카타로그 URL | |
메뉴얼 URL | |
원문 URL | http://www.zeus.go.kr/equip/read?equipId=Z-NTIS-0008001 |
첨부파일 |
과학기술표준분류 | |
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ICT 기술분류 | |
주제어 (키워드) |