x-레이 이중 결정회절분석 시스템
| 기관명 | ZEUS |
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| 장비번호 | |
| 제작사 | Bede |
| 모델명 | Bede 150 |
| 장비사양 | |
| 취득일자 | 1991-09-01 |
| 취득금액 |
| 보유기관명 | 전북대학교 |
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| 보유기관코드 | |
| 활용범위 | |
| 활용상태 | |
| 표준코드 | |
| 표준분류명 | |
| 시설장비 설명 | 쌍결정 x-선 회절을 이용하여 결정의 구조적 특성과 alloy의 composition을 결정할 수 있다.1. System제어 PCmonitorPlotter 2. x-ray 발생장치Cu tube 3. DetectorUndoped GaN doped GaN 의 구조 분석 - alloy InGaN AlGaN SiGe등에서 조성비 결정 |
| 장비이미지코드 | http://nfec.ntis.go.kr/storage/images/equip/photo/200702/.thumb/200702051351.jpg |
| 장비위치주소 | 반도체물성연구센터 |
| NFEC 등록번호 | NFEC-1999-04-032870 |
| 예약방법 | |
| 카타로그 URL | |
| 메뉴얼 URL | |
| 원문 URL | http://www.zeus.go.kr/equip/read?equipId=Z-NTIS-0005561 |
| 첨부파일 |
| 과학기술표준분류 | |
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| ICT 기술분류 | |
| 주제어 (키워드) |