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장비

원자현미경

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보유기관명	한국교통대학교
보유기관코드
활용범위
활용상태
표준코드
표준분류명
시설장비 설명	탐침을 이용하여 물질표면의 물리학적 구조에 대한 정보를 얻을 수 있는 기기를 통칭SPM이라고 한다. 이 SPM은 기능에 따라 여러 가지 다른 이름 으로 불리며 대표적인 예로 STM AFM MFM등이 있다. AFM은 시료의 표면을 처리하지 않고 관찰할 수 있는 장점이 있으며 특히 전기를 통하지 않는 부도체를 포함하여 수용액상의 고체물질의 표면도 관찰이 가능하므로 각종 생물학적 시료를 포함한 표면이 유연한 시료의 관찰에 용이하다. STM 과 AFM은 팁이라 부르는 작고 날카로운 검침을 물리표면에 2차원적으로 주사하는 3차원적인 표면정보를 얻는다. 이처럼 검침을 이용하여 표면을 관찰하는 방법을 통칭하여 SPM이라고 부른다.Contact mode Atomic Force Microscopy(AFM)-Non Contact AFM-Tapping mode AFM-Magnetic Force Microscopy(MFM)반도체 표면분석-하드디스크-천연광물 표면 분석-폴리머표면분석
장비이미지코드	http://nfec.ntis.go.kr/storage/images/equip/photo/201311/.thumb/20131108113223309.jpg
장비위치주소	공동실험실습관
NFEC 등록번호	NFEC-2004-11-024048
예약방법
카타로그 URL
메뉴얼 URL
원문 URL	http://www.zeus.go.kr/equip/read?equipId=Z-NTIS-0004584
첨부파일