기업조회

본문 바로가기 주메뉴 바로가기

장비 및 시설 기본정보

광학특성 측정장치

장비 개요

기관명, 장비번호, 제작사, 모델명, 장비사양, 취득일자, 취득금액 순으로 구성된 표입니다.
기관명 ZEUS
장비번호
제작사 Photometric Solutions Internat
모델명 MPT 
장비사양
취득일자 2002-11-26
취득금액

보유기관 및 이용정보

보유기관명, 보유기관코드, 활용범위, 활용상태, 표준코드, 표준분류명, 시설장비 설명, 장비이미지코드, 장비위치주소, NFEC 등록번호, 예약방법, 카타로그 URL, 메뉴얼 URL, 원문 URL, 첨부파일 순으로 구성된 표입니다.
보유기관명 한국과학기술원
보유기관코드
활용범위
활용상태
표준코드 A400
표준분류명
시설장비 설명 이 형광특성 분석장치는 powder type 및 thin film type의 가시광 발광특성을 측정할 수 있는 장비로써 반사, 투과형태로 가시광 형광특성 분석이 가능하다. 주로 가시광 발광특성 분석이 가능하며 색좌표 분석 및 여기광에 따른 발광강도 비교, 형광휘도 상대분석이 가능하다.Arc Xe lamp power : 500W
Max. Powder sample : 10ea
Max. thin film sample : 3ea
Monochromator unit : f=150
Blazed grating : 1200gr/mm, 300nm and 1200gr/mm, 1um
Multichannel detector assembly : CCD detector -Data acquisition control unitpowder type 및 thin film type의 가시광 발광특성을 측정
반사, 투과형태로 가시광 형광특성 분석
색좌표 분석 및 여기광에 따른 발광강도 비교, 형광휘도 상대분석 등
장비이미지코드 http://nfec.ntis.go.kr/storage/images/equip/photo/201501/.thumb/20150106172529332.jpg
장비위치주소 대전 유성구 구성동 한국과학기술원 W1-1 신소재공학과 한국과학기술원 응용공학동(W1-1) 1층 1420
NFEC 등록번호 NFEC-2015-01-195404
예약방법
카타로그 URL
메뉴얼 URL
원문 URL http://www.zeus.go.kr/equip/read?equipId=Z-NTIS-0048182
첨부파일

추가정보

과학기술표준분류, ICT 기술분류, 주제어 순으로 구성된 표입니다.
과학기술표준분류
ICT 기술분류
주제어 (키워드)