광학특성 측정장치
기관명 | ZEUS |
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장비번호 | |
제작사 | Photometric Solutions Internat |
모델명 | MPT |
장비사양 | |
취득일자 | 2002-11-26 |
취득금액 |
보유기관명 | 한국과학기술원 |
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보유기관코드 | |
활용범위 | |
활용상태 | |
표준코드 | A400 |
표준분류명 | |
시설장비 설명 | 이 형광특성 분석장치는 powder type 및 thin film type의 가시광 발광특성을 측정할 수 있는 장비로써 반사, 투과형태로 가시광 형광특성 분석이 가능하다. 주로 가시광 발광특성 분석이 가능하며 색좌표 분석 및 여기광에 따른 발광강도 비교, 형광휘도 상대분석이 가능하다.Arc Xe lamp power : 500W Max. Powder sample : 10ea Max. thin film sample : 3ea Monochromator unit : f=150 Blazed grating : 1200gr/mm, 300nm and 1200gr/mm, 1um Multichannel detector assembly : CCD detector -Data acquisition control unitpowder type 및 thin film type의 가시광 발광특성을 측정 반사, 투과형태로 가시광 형광특성 분석 색좌표 분석 및 여기광에 따른 발광강도 비교, 형광휘도 상대분석 등 |
장비이미지코드 | http://nfec.ntis.go.kr/storage/images/equip/photo/201501/.thumb/20150106172529332.jpg |
장비위치주소 | 대전 유성구 구성동 한국과학기술원 W1-1 신소재공학과 한국과학기술원 응용공학동(W1-1) 1층 1420 |
NFEC 등록번호 | NFEC-2015-01-195404 |
예약방법 | |
카타로그 URL | |
메뉴얼 URL | |
원문 URL | http://www.zeus.go.kr/equip/read?equipId=Z-NTIS-0048182 |
첨부파일 |
과학기술표준분류 | |
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ICT 기술분류 | |
주제어 (키워드) |