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장비
장비 및 시설 기본정보
전계방출형 주사 전자 현미경
장비 개요
| 기관명 | ZEUS |
|---|---|
| 장비번호 | |
| 제작사 | Hitach |
| 모델명 | S-4700 |
| 장비사양 | |
| 취득일자 | 2001-06-21 |
| 취득금액 |
보유기관 및 이용정보
| 보유기관명 | 한국기초과학지원연구원 전주센터 |
|---|---|
| 보유기관코드 | |
| 활용범위 | |
| 활용상태 | |
| 표준코드 | A206 |
| 표준분류명 | |
| 시설장비 설명 | 전자빔을 시료에 주사하여 발생하는 이차 전자와 X-ray를 검출하여 시료의 표면 이미지와 성분분석 수행이 가능한 장비이다. FE-SEM의 사양은 50만배까지 이미지 분석이 가능하며 EDX를 이용하여 line scan과 mapping 분석이 가능하다. 이를 활용하여 여러 시료표면의 정확한 분석이 가능해지며 동시에 원소의 정성분석도 가능하다. 이용문의 및 예약은 아래 분석예약 방법 참조 |
| 장비이미지코드 | http://use.kbsi.re.kr/html/user/equ_photo/CJ101.jpg |
| 장비위치주소 | 전주센터 108호 |
| NFEC 등록번호 | |
| 예약방법 | |
| 카타로그 URL | |
| 메뉴얼 URL | |
| 원문 URL | http://www.zeus.go.kr/equip/read?equipId=Z-KBSI_JJC-00105 |
| 첨부파일 |
추가정보
| 과학기술표준분류 | |
|---|---|
| ICT 기술분류 | |
| 주제어 (키워드) |