저진공 전계방사형 주사전자현미경
기관명 | ZEUS |
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장비번호 | |
제작사 | Carl Zeiss |
모델명 | SUPRA-55VP |
장비사양 | |
취득일자 | 2011-11-15 |
취득금액 |
보유기관명 | 한국기초과학지원연구원 |
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보유기관코드 | |
활용범위 | |
활용상태 | |
표준코드 | A206 |
표준분류명 | |
시설장비 설명 | ○ Electron Source : Thermal Schottky field emitter - Resolution : Electron Beam 1.0nm @15kV - Beam Stability 0.2%/h○ GEMINI Column Electrostatic Lens and Magnetic Lens○ Variable Pressure / Cooling Stage - 코팅 없는 관찰로 대상의 실제표면 이미징 분석 - Charging 없는 저전압 이미지 측정 - Cooling stage를 활용하여 beam 손상이 쉬운 시료도 측정 가능 ○ EDS를 이용한 시료의 정성, 정량 분석 - Resolution : 123eV @ Mn Standard (1-100,000cps) ○ Applications - 곤충, 식물, 꽃, 동물조직의 표면 분석 - E-Coil, Bacteria, Yeast, Diatom, Cell, Tissue, Pollen 등 다양한 생물 시료의 실시간 nano-scale 관찰 - Cosmetic, Food, 섬유, 약품 등의 표면 분석 - Geology, Engineering Tools, Ceramic, Cement 시료의 표면분석 - 반도체, 전기, 전자 분야의 시료 표면분석 및 구조분석 |
장비이미지코드 | http://nfec.ntis.go.kr/storage/images/equip/photo/201112/.thumb/20111227100828.jpg |
장비위치주소 | 강원도 춘천시 강원대학길 1 (효자동) 집현관 강원대학교 집현관 |
NFEC 등록번호 | NFEC-2011-12-152041 |
예약방법 | |
카타로그 URL | |
메뉴얼 URL | |
원문 URL | http://www.zeus.go.kr/equip/read?equipId=Z-NTIS-0048486 |
첨부파일 |
과학기술표준분류 | |
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ICT 기술분류 | |
주제어 (키워드) |