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장비
장비 및 시설 기본정보
전자탐침미세분석기
장비 개요
| 기관명 | ZEUS |
|---|---|
| 장비번호 | |
| 제작사 | Shimadzu |
| 모델명 | EPMA-1600 |
| 장비사양 | |
| 취득일자 | 2008-03-11 |
| 취득금액 |
보유기관 및 이용정보
| 보유기관명 | 안동대학교 |
|---|---|
| 보유기관코드 | |
| 활용범위 | |
| 활용상태 | |
| 표준코드 | A400 |
| 표준분류명 | |
| 시설장비 설명 | 가속된 전자가 시료의 표면에 조사될 때 발생되는 2차 전자(secondary electron)로부터 시료의 미세영상을 수만배의 배율까지 확대하여 관찰하며, 동시에 발생되는 X-선의 파장으로부터 시료를 구성하고 있는 원소의 종류 및 존재량을 측정한다ㆍ 가속 전압 : 0.5~30㎸ ㆍ 배 율 : 50~250,000배 ㆍ 해상도 : 4㎚ 금속, 세라믹, 고분자, 광물시료 등 각종 시료의 미세 표면성분 분석 |
| 장비이미지코드 | http://nfec.ntis.go.kr/storage/images/equip/photo/201410/batch/.thumb/070080400018284786.JPG |
| 장비위치주소 | 경북 안동시 경동로 1375번지 안동대학교 안동대학교 공동실험실습관공동실험실습관 |
| NFEC 등록번호 | NFEC-2014-11-193147 |
| 예약방법 | |
| 카타로그 URL | |
| 메뉴얼 URL | |
| 원문 URL | http://www.zeus.go.kr/equip/read?equipId=Z-NTIS-0046139 |
| 첨부파일 |
추가정보
| 과학기술표준분류 | |
|---|---|
| ICT 기술분류 | |
| 주제어 (키워드) |