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장비
장비 및 시설 기본정보
디지털 오실로스코프
장비 개요
| 기관명 | ZEUS |
|---|---|
| 장비번호 | |
| 제작사 | Teledyne LeCroy |
| 모델명 | 모델명 없음 |
| 장비사양 | |
| 취득일자 | 2014-11-17 |
| 취득금액 |
보유기관 및 이용정보
| 보유기관명 | (주)네스테크놀로지 |
|---|---|
| 보유기관코드 | |
| 활용범위 | |
| 활용상태 | |
| 표준코드 | D105 |
| 표준분류명 | |
| 시설장비 설명 | 전압 또는 전류 등을 시간의 변화에 따라 신호들의 크기가 어떻게 변화하고 있는지를 표시해 줌. 입력신호의 시간과 전압의 크기 발진 신호의 주파수 입력신호에 대한 회로상의 응답변화 직류신호와 교류신호의 양 등을 알 수 있음. High Bandwidth and Sample Rate Real-time Oscilloscope 초고속 Serial Data Analysis HD-SDI 신호 및 HDMI 입출력 영상 신호 계측14.1Gbp Hardware Serial Trigger 6GHz, 40 GS/s, 4ch, 20Mpts/ch Low Jitter Measurement flore and High stable timebase over long acquisitions Deepest toolbox with more measurement, more math, more power Sensitivivy : 2mV ~ 1V/div, 50 ohms Resolution : 8-bit 15.3" Wide Screen(16x9) high relosution WXGA color touch screen display High performance CPU Intel core i7-2600 Quad-core with 8GB Ram X-Stream II straming architecture - 10-100 faster analysis and better responivenessHD-SDI 입출력 영상신호 회로 설계 및 신호 품질 검사 HD-SDI 입출력 단자 특성 검사 HDMi 입출력 영상신호 회로 설계 및 신호 품질 검사 HDMI 입출력 단자 특성 검사 Scaler 회로 설계 고속 Serial PCB Pattern 특성 층정 회로 기판에서의 IC Chip간 신호 결선 부분의 특성에 대한 영상신호 정밀 측정 영상신호 처리 전달 여부 확인 Step 응답 측정 S/N비 및 왜율 측정 |
| 장비이미지코드 | http://nfec.ntis.go.kr/storage/images/equip/photo/201412/.thumb/2014121611193562.jpg |
| 장비위치주소 | 서울 금천구 가산동 에이스테크노타워10차 205호 네스테크놀로지 에이스테크노타워 2층 205 |
| NFEC 등록번호 | NFEC-2014-12-194043 |
| 예약방법 | |
| 카타로그 URL | |
| 메뉴얼 URL | |
| 원문 URL | http://www.zeus.go.kr/equip/read?equipId=Z-NTIS-0046594 |
| 첨부파일 |
추가정보
| 과학기술표준분류 | |
|---|---|
| ICT 기술분류 | |
| 주제어 (키워드) |