| 시설장비 설명 |
1. 특징- 진공 중에서 고속의 전자를 대음극에 충돌시킬 때 방출되는 일차 X선을 시료에 조사하면 시료의 구성요소인 원자로부터 내각 궤도로 전자가 방출되고 빈자리에 상위 궤도로부터 전자가 채워진다. 이 때 궤도 에너지차이에 의한 전자파가 발생하는데 이것을 형광 X선이라 한다. 이 형광 X선은 각 원소 고유의 에너지를 갖는 일정파장으로 나타나는데 분광계에 의해 각각의 파장을 분리하여 강도를 측정함으로써 정성 및 정량분석을 한다.2. 제품구성 및 성능 - X-ray generator : 4kW(max, 60kV, 150mA), X-ray tube : end-window type Rh target, Spectrometer : WDX-type sequentioal spectrometer, Analyzing crystal : LIF(200), PET, Ge, TAP, Crystal set3. 활용분야 -토양 및 호수의 sediment 등의 중금속, 도자기, 토기 등 유물, 석회석, 규석 등의 광물자원 시료, Fe계 및 비철금속류의 정성 및 정량분석, 전자부품, Plastic제품, Paint류 외 RoHs 분석 |
