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장비
장비 및 시설 기본정보
입사광자 대 전자변환 효율 측정 시스템
장비 개요
| 기관명 | ZEUS |
|---|---|
| 장비번호 | |
| 제작사 | 맥사이언스 |
| 모델명 | K3100 NIRX Spectral IPCE |
| 장비사양 | |
| 취득일자 | 2013-12-27 |
| 취득금액 |
보유기관 및 이용정보
| 보유기관명 | 대구경북과학기술원 |
|---|---|
| 보유기관코드 | |
| 활용범위 | |
| 활용상태 | |
| 표준코드 | B503 |
| 표준분류명 | |
| 시설장비 설명 | 태양전지의 양자효율 측정 시스템으로 외부양자효율과 내부양자효율 모두를 측정할 수 있다. 또한 CZTS 태양전지 가운데 CZTSSe 와 같은 1100nm 이상 장파장 영역의 스펙트럼 측정을 요하는 샘플들에 특화된 즉 단파장에서 장파장 영역 ( 유효측정 범위 350 nm ~ 1600 nm ) 측정이 가능한 양자효율 측정 시스템이다. CZTS 계 태양전지 외에 CIGS 태양전지의 양자효율 측정이 가능하며 DSSC 태양전지의 양자효율 측정이 가능하도록 Light Bias ( Hallogen Lamp 150W) 역시 부속 장비로 설치되어있다.1. Light Source & Lamp Power Supply + Light Source : 300W Xenon Arc Lamp 2. Motorized Filter Wheel and Sorting Filter + Under 570nm Cut-on Filter + Under 800nm Cut-on Filter 3. Monocrhromator (300 ~ 1800 nm) + Grating 1 : 300 ~ 1200nm + Grating 2 : 450 ~ 1800nm 4. Optics + Focusing Colimating Lens + Optics Holder Aperture 5. Optical Table & Dark Room Case + Size(mm) : 1500(W) X 1500(D) X 1800(H) 6. Sample Mounting JIG ( CIGS DSSC JIG ) 2set 7. Lock-In Amplifier & Optical Chopper 8. K102 Signal Amplifier 9. Reference Cell + K801S Reference Cell (Calibrated Si-PD 300 ~ 1100nm) + K801I Reference Cell (Calibrated InGaAs-PD 700~1700nm) 10. Operating PC & IPCE Measurement Software 11. Light Bias ( Hallogen Lamp 150 W ) 12. Integrating Sphere and Optics 13. Reflecting Plate 14. Monitoring Photo-Diode (Si-PD InGaAs-PD) 15. Signal Amplifer for Reflectance 16. Lock-in Amplifier 1 Channel AddCZTS 계 태양전지 CIGS 계 태양전지 DSSC 태양전지의 양자효율 측정 |
| 장비이미지코드 | http://nfec.ntis.go.kr/storage/images/equip/photo/201401/.thumb/201401212011608.jpg |
| 장비위치주소 | 대구 달성군 현풍면 상리 50-1 대구경북과학기술원 2연구동 7층 703 |
| NFEC 등록번호 | NFEC-2014-01-185145 |
| 예약방법 | |
| 카타로그 URL | |
| 메뉴얼 URL | |
| 원문 URL | http://www.zeus.go.kr/equip/read?equipId=Z-NTIS-0043294 |
| 첨부파일 |
추가정보
| 과학기술표준분류 | |
|---|---|
| ICT 기술분류 | |
| 주제어 (키워드) |