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장비
장비 및 시설 기본정보
입도분석기
장비 개요
| 기관명 | ZEUS |
|---|---|
| 장비번호 | |
| 제작사 | Malvern Instruments |
| 모델명 | Mastersizer 3000 |
| 장비사양 | |
| 취득일자 | 2012-11-28 |
| 취득금액 |
보유기관 및 이용정보
| 보유기관명 | 문무 |
|---|---|
| 보유기관코드 | |
| 활용범위 | |
| 활용상태 | |
| 표준코드 | B702 |
| 표준분류명 | |
| 시설장비 설명 | 측정범위 : 0.01 - 3500㎛ Optics 시스템 Reverse fourier 시스템(New 방식) 입자크기에 따른 회절각도를 0°에서 135°로 산란 Pattern을 한번에 전부 측정해서 Data를 산출함.(0.01 - 3500㎛) 전 영역 전담 검출기 시스템 레이저 He - Ne Gas laser 파장 632.8nm Submicron의 정확성을 보강하기위해 작은입자의 세밀한 광세기를 측정하는 Blue light(470nm) 전용검출기 사용. 검출 각도 0-135° 검출기 비절단형 검출기로 구성. Align 시에 레이저가 이동하지 않고 검출기가 이동하며 Align을 하기 때문에 Offsets 없이 짧은 측정시간이 소요됨 |
| 장비이미지코드 | http://nfec.ntis.go.kr/storage/images/equip/photo/201211/.thumb/20121130124542.jpg |
| 장비위치주소 | 경기 광주시 오포읍 추자리211-13문무주식회사 |
| NFEC 등록번호 | NFEC-2012-11-172628 |
| 예약방법 | |
| 카타로그 URL | |
| 메뉴얼 URL | |
| 원문 URL | http://www.zeus.go.kr/equip/read?equipId=Z-NTIS-0043379 |
| 첨부파일 |
추가정보
| 과학기술표준분류 | |
|---|---|
| ICT 기술분류 | |
| 주제어 (키워드) |