저온/고온 분말 X선회절장치
기관명 | ZEUS |
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장비번호 | |
제작사 | Bruker |
모델명 | D8 ADVANCE |
장비사양 | |
취득일자 | 2013-12-27 |
취득금액 |
보유기관명 | 서울대학교 산학협력단 |
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보유기관코드 | |
활용범위 | |
활용상태 | |
표준코드 | B520 |
표준분류명 | |
시설장비 설명 | 분말시료의 결정 구조를 정련(Rietveld Refinement) 및 결정하는 데 사용되는 X선 회절장치이다. 헬륨기체의 응축장치를 이용한 Closed Cycle Refrigerator (CCR)를 통해 12K의 저온까지 측정가능하다. 또한 진공 전기로를 장착하여 상온에서 1373K까지 측정가능하다. Pixel 검출기를 사용하여 기존의 Point Detector에 비해서 그 측정 효율 및 분해능이 향상되었다.출력 3 kW X선 타겟 (Cu Kα1=1.5490 Å) 수직 고니어미터 (Vertical Goniometer) X선 검출기 (Cu 및 Ag 타겟용) 사용온도: 12 ~ 300 K(저온옵션) 300 ~ 1373 K(고온옵션) - 온도에 따른 물질의 결정구조 측정 가능 - 헬륨 사용 냉각기로 12K의 극저온 측정 가능 ※ 단결정 X선 회절장치와 상보적 구조분석 가능물리 화학 그리고 재료과학 분야에 물질의 구조를 규명하기 위하여 X선 회절 장치는 기본적이고 필수적인 장치이다. 보통은 상온에서 기존에 보고된 구조와 비교한 index를 통해 그 phase를 확인하는 작업이 일반적이나 구조내 원자들의 위치 및 결합 거리 각도 등을 알아내려면 Rietveld Refinement가 필요하게 된다. 이러한 구조가 여러가지 상전이(Phase Transiton) 전후로 그 물성을 이해하는 데 필수적인 사항으로 다수의 논문에 기술되고 있다. |
장비이미지코드 | http://nfec.ntis.go.kr/storage/images/equip/photo/201401/.thumb/20140128133316220.jpg |
장비위치주소 | 서울 관악구 대학동 서울대학교자연과학대학 산 56-1 서울대학교 19동 (자연과학대학) 4층 410호 |
NFEC 등록번호 | NFEC-2014-01-185391 |
예약방법 | |
카타로그 URL | |
메뉴얼 URL | |
원문 URL | http://www.zeus.go.kr/equip/read?equipId=Z-NTIS-0042405 |
첨부파일 |
과학기술표준분류 | |
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ICT 기술분류 | |
주제어 (키워드) |