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장비 및 시설 기본정보

저온/고온 분말 X선회절장치

장비 개요

기관명, 장비번호, 제작사, 모델명, 장비사양, 취득일자, 취득금액 순으로 구성된 표입니다.
기관명 ZEUS
장비번호
제작사 Bruker
모델명 D8 ADVANCE
장비사양
취득일자 2013-12-27
취득금액

보유기관 및 이용정보

보유기관명, 보유기관코드, 활용범위, 활용상태, 표준코드, 표준분류명, 시설장비 설명, 장비이미지코드, 장비위치주소, NFEC 등록번호, 예약방법, 카타로그 URL, 메뉴얼 URL, 원문 URL, 첨부파일 순으로 구성된 표입니다.
보유기관명 서울대학교 산학협력단
보유기관코드
활용범위
활용상태
표준코드 B520
표준분류명
시설장비 설명 분말시료의 결정 구조를 정련(Rietveld Refinement) 및 결정하는 데 사용되는 X선 회절장치이다. 헬륨기체의 응축장치를 이용한 Closed Cycle Refrigerator (CCR)를 통해 12K의 저온까지 측정가능하다. 또한 진공 전기로를 장착하여 상온에서 1373K까지 측정가능하다. Pixel 검출기를 사용하여 기존의 Point Detector에 비해서 그 측정 효율 및 분해능이 향상되었다.출력 3 kW X선 타겟 (Cu Kα1=1.5490 Å)
수직 고니어미터 (Vertical Goniometer)
X선 검출기 (Cu 및 Ag 타겟용)
사용온도: 12 ~ 300 K(저온옵션) 300 ~ 1373 K(고온옵션) - 온도에 따른 물질의 결정구조 측정 가능 - 헬륨 사용 냉각기로 12K의 극저온 측정 가능
※ 단결정 X선 회절장치와 상보적 구조분석 가능물리 화학 그리고 재료과학 분야에 물질의 구조를 규명하기 위하여 X선 회절 장치는 기본적이고 필수적인 장치이다. 보통은 상온에서 기존에 보고된 구조와 비교한 index를 통해 그 phase를 확인하는 작업이 일반적이나 구조내 원자들의 위치 및 결합 거리 각도 등을 알아내려면 Rietveld Refinement가 필요하게 된다. 이러한 구조가 여러가지 상전이(Phase Transiton) 전후로 그 물성을 이해하는 데 필수적인 사항으로 다수의 논문에 기술되고 있다.
장비이미지코드 http://nfec.ntis.go.kr/storage/images/equip/photo/201401/.thumb/20140128133316220.jpg
장비위치주소 서울 관악구 대학동 서울대학교자연과학대학 산 56-1 서울대학교 19동 (자연과학대학) 4층 410호
NFEC 등록번호 NFEC-2014-01-185391
예약방법
카타로그 URL
메뉴얼 URL
원문 URL http://www.zeus.go.kr/equip/read?equipId=Z-NTIS-0042405
첨부파일

추가정보

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ICT 기술분류
주제어 (키워드)