| 보유기관명 |
서울대학교 |
| 보유기관코드 |
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| 활용범위 |
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| 활용상태 |
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| 표준코드 |
A208 |
| 표준분류명 |
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| 시설장비 설명 |
나노재료의 표면분석Main Body -010-0002 XE-100E Complete System -Complete Decoupled XY&Z Scanner with Closed-Loop Feedback -XE Head -Direct On-Axis Optical Microscope -Manual Focusing Stage -Motorized Z Stage -Manual High Precision XY Stage -Electronics |
| 장비이미지코드 |
http://nfec.ntis.go.kr/storage/images/equip/photo/itep200710/.thumb/1178723597_1.jpg |
| 장비위치주소 |
서울 관악구 대학동 서울대학교 산 56-1 서울대학교 302동 (공과대학) 5층 511호 |
| NFEC 등록번호 |
NFEC-2007-10-007242 |
| 예약방법 |
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| 카타로그 URL |
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| 메뉴얼 URL |
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| 원문 URL |
http://www.zeus.go.kr/equip/read?equipId=Z-NTIS-0001422 |
| 첨부파일 |
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