전계방사형주사전자현미경
기관명 | ZEUS |
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장비번호 | |
제작사 | Jeol |
모델명 | JSM-6701F |
장비사양 | |
취득일자 | 2009-06-26 |
취득금액 |
보유기관명 | 금오공과대학교 |
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보유기관코드 | |
활용범위 | |
활용상태 | |
표준코드 | A206 |
표준분류명 | |
시설장비 설명 | 상온에서 전자Beam에 강한 자계를 걸어 방출되는 전자 Beam을 광원으로 사용 Beam current가 상대적으로 작기 때문에 일반적인 Thermal Type의 FE-SEM보다 좀 더 좋은 분해능 구현 가능 추가 장착된 80㎟의 대면적 SDD Detector를 통해 원소검출 능력 면에서 획기적인 성능 향상Gun Type: Cold Field Emission Electron Gun Type Resolution: 0.1 nm (15 kV) 2.2 nm (1 kV) Accelerating Voltage: 0.5 kV ~ 20 kV Magnification: X 25 ~ 650000 Probe Current: 0.1 pA ~ 2nA금속 및 재료분야 시료의 표면 Image 및 원소 조성차이에 의한 조성상 관찰 불순물의 위치파악 및 형태 크기 관찰 화학 공업분야 고분자의 형태와 크기 표면형상 관찰 시료의 원소분석과 Mapping을 통한 구성성분 분석 관찰 시료의 정량?정성 분석(Point Line Mapping) |
장비이미지코드 | http://nfec.ntis.go.kr/storage/images/equip/photo/201311/.thumb/20131101145640951.jpg |
장비위치주소 | 경북 구미시 양호동 금오공과대학교 그린에너지관 217-2호 금오공과대학교 그린에너지관 2층 219-2 |
NFEC 등록번호 | NFEC-2013-11-183758 |
예약방법 | |
카타로그 URL | |
메뉴얼 URL | |
원문 URL | http://www.zeus.go.kr/equip/read?equipId=Z-NTIS-0042152 |
첨부파일 |
과학기술표준분류 | |
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ICT 기술분류 | |
주제어 (키워드) |