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장비

홀효과측정장치

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보유기관명	한밭대학교 산학협력단
보유기관코드
활용범위
활용상태
표준코드	C514
표준분류명
시설장비 설명	반도체 소자의 전기적인 특성파악을 위해 확인해야 할 캐리어의 농도(Carrier Concentration) 이동도(Mobility) 저 항률(Resistivity) 그리고 홀계수(Hall Coeficient)를 파악하기 위한 장비로서 반도체 소자의 특성파악을 위한 측정 장비크기 : 36×30×10.5cm 저항율 : 10-4 ∼107(Ω·cm) 농도 : 107 ∼ 1021 (cm-3) 자속밀도 : 0.55Tesla 온도 범위 : 80K- 350K 인가전류범위 : 1nA ∼ 20㎃금속이나 반도체의 양단에 전류를 흘리고 이에 수직되게 자장을 인가하면 전자나 정공(hole)이 Lorentz force를 받아 전류와 자장에 수직한 방향의 양단이 전하를 띠게 되고 내부에 전장이 형성되어져 캐리어 농도이동도 및 저항률 그리고 홀계수 를 파악할수 있게 된다.
장비이미지코드	http://nfec.ntis.go.kr/storage/images/equip/photo/201305/.thumb/20130515102124967.bmp
장비위치주소	대전 유성구 덕명동 한밭대학교 N8동 606호 한밭대학교 정보전자부품소재연구소 N8동 6층 606
NFEC 등록번호	NFEC-2013-05-178885
예약방법
카타로그 URL
메뉴얼 URL
원문 URL	http://www.zeus.go.kr/equip/read?equipId=Z-NTIS-0040608
첨부파일