보유기관명 |
한국과학기술원 |
보유기관코드 |
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활용범위 |
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활용상태 |
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표준코드 |
B503 |
표준분류명 |
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시설장비 설명 |
레이저 혹은 램프로 대상 재료에 빛을 조사하여 에너지를 주었을 때에 대상 재료의 excited state에서 발생하는 발광과 관련된 광학 현상을 감지하고 이를 데이터로 처리하여 보여주는 장비이다.Photoluminescence measurement system의 구성은 785nm 레이저 그에 따른 detector Xe lamp 그에 따른 detector 이렇게 크게 4부분으로 구성되어 있다Nanocrystal은 그 물질이 bulk 상태 일때와는 다른 size-dependent한 band gap을 가지고 있다. 여기에 laser 및 램프를 이용하여 에너지를 가하여서 exciton(electron - hole pair)을 생성시킬수 있다. Exciton 즉 charge carrier인 electron-hole pair가 형성된 이후 그것들은 다시 recombination하여 radiative process 혹은 non-radiative process를 통하여 에너지를 방출하게 된다. 우리가 구축하고 있는 PL measurement system을 이용하면 carrier recombination에 의해 radiative process를 통하여 방출되는 energy의 wavelength를 측정할 수 있고 그에 따라 대상 재료의 size band gap 등을 알아 낼 수 있다. |
장비이미지코드 |
http://nfec.ntis.go.kr/storage/images/equip/photo/201308/.thumb/20130809145018691.jpg |
장비위치주소 |
대전 유성구 구성동 한국과학기술원 응용공학동 생명화학공학과 응용공학동 6층 6117 |
NFEC 등록번호 |
NFEC-2013-08-181919 |
예약방법 |
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카타로그 URL |
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메뉴얼 URL |
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원문 URL |
http://www.zeus.go.kr/equip/read?equipId=Z-NTIS-0040146 |
첨부파일 |
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