고분해능 주사전자현미경
기관명 | ZEUS |
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장비번호 | |
제작사 | Hitachi |
모델명 | SU-70 |
장비사양 | |
취득일자 | 2014-02-28 |
취득금액 |
보유기관명 | 한국기초과학지원연구원 |
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보유기관코드 | |
활용범위 | |
활용상태 | |
표준코드 | A206 |
표준분류명 | |
시설장비 설명 | 고분해능 주사 전자 현미경은 입사전자와 시료에 주사하여 시료로 부터 발생하는 2차 전자를 검출하여 고분해능 이미지를 얻고 분석 기능을 부여하여 시료의 마치크로 나노 크기에서 구조 및 성분을 분석하는 장비임.1) 이미지 관찰 - 분해능 : 1 nm - 배율 : x25∼x800000 - 전자총 : ZrO/W 쇼트키 타입 전계 방출형 5) Probe Current : 1 pA∼100 nA 6) EDS detector - Liquid Nitrogen free with integrated Peltier cooling system - Resolution of 133 eV or better measured at MnK 100000 CPS - Sensor size : 50 mm2 7) EBSD 8) BSD- 시료의 형상 관찰 - 시료의 구조분석 - 나노 구조체 분석 - 무기시료의 성분분석 - 박막의 두께 및 형상 관찰 - 금속시료의 석출물에 따른 구조 및 형상관찰 - 세라믹 시료의 결정립의 구조 분석 |
장비이미지코드 | http://nfec.ntis.go.kr/storage/images/equip/photo/201403/.thumb/2014032610181169.jpg |
장비위치주소 | 부산 강서구 지사동 1274번지 한국기초과학지원연구원 부산센터 하이테크소재연구부 한국기초과학지원연구원 하이테크소재연구부 2층 202 |
NFEC 등록번호 | NFEC-2014-03-186494 |
예약방법 | |
카타로그 URL | |
메뉴얼 URL | |
원문 URL | http://www.zeus.go.kr/equip/read?equipId=Z-NTIS-0040826 |
첨부파일 |
과학기술표준분류 | |
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ICT 기술분류 | |
주제어 (키워드) |