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장비 및 시설 기본정보
고분해능 분석투과 전자현미경
장비 개요
| 기관명 | ZEUS |
|---|---|
| 장비번호 | |
| 제작사 | Fei |
| 모델명 | Titan G2 Cube 60-300 |
| 장비사양 | |
| 취득일자 | 2013-10-07 |
| 취득금액 |
보유기관 및 이용정보
| 보유기관명 | 한국과학기술연구원 |
|---|---|
| 보유기관코드 | |
| 활용범위 | |
| 활용상태 | |
| 표준코드 | A205 |
| 표준분류명 | |
| 시설장비 설명 | 고분해능 투과전자현미경(High resolution transmission electron microscope; HRTEM)은 탄소 및 2D 박막소재(탄소나노튜브 탄소섬유 그래핀 h-BN MoS2 WS2 등)의 전자빔에 의한 손상없이 낮은 가속 전압(60kV)을 이용하여 원자 수준 정보까지 고 분해능으로 관찰 할 수 있으며 구조 분석 및 화학적 성분 분석이 가능함. 원자 수준(Atomic scale)에서 재료의 결함 유무를 관찰 할 수 있는 소재 분야의 중요한 장비임.Resolution 1. Point Resolution: 0.08 nm or better 2. Information limit: 0.07 nm or better 3. STEM Resolution without Probe Cs: 0.136nm or better 4. STEM Resolution with Probe Cs optionally: 0.07nm or better Specimen stage 1. Sample area between the pole pieces should be 5.4 mm or better 2. Range of movement should be +/-1mm in the X-Y plane or better 3. Range of movement should be +/-0.375mm in the Z direction or better. 4. Tilt range should be +/-40 degrees or better. 5. Recall accuracy of the stage should be within 300nm or better Acoustic Enclosure 1. Acoustic damping of 20dBC allowing relaxed acoustic room requirements or better 2. Temperature variation damping allowing peak to peak variations of 0.8°C or better 3. Easy side door access for sample loading / unloading 4. Easy front door access for plate camera handling Digital Search and View Camera 1. High frame rate: up to 40 frames / sec or better 2. Automatically adaptable gain large magnification range enabling from looking for a lost beam in low magnification to imaging of focused beams in high magnification. 3. High Dynamic Range Mode allowing alternating short and long exposures 4. Smart user interface to adapt the dynamic range for different tasks so that for example (bright) diffraction spots and (weak) Kikuchi lines can be observed in one image. 5. Ultra-robust scintillator design which makes it insensitive to beam damage. 6. Observation of focused high intensity beams. 7. Live Fast Fourier Transforms. 8. False color imaging. 9. All microscope alignments can be carried out using the camera. Vaccum system System should use a vacuum system which is entirely oil-free. Differential pumping on the electron column ensures a clean environment for the sample. Electron optics 1. System should be ConstantPower lens design without load-bearing lens modules. Some specifications of the electron optical system. 2. Optimized magnetic circuitry to reduce cross-talk and hysteresis to a minim고분해능 투과전자현미경(High resolution transmission electron microscope:HRTEM)은 낮은 가속전압(60kV)에서 탄소재료 및 2D박막재료 (탄소나노튜브 그래핀 탄소섬유 h-BN MoS2 등)의 전자빔에 의한 손상없이 원자 수준의 정보 및 미세구조 분석 화학성분 분석이 가능한 초정밀 분석 장비임. KIST 전북분원은 다음과 같은 용도로 HR-TEM을 활용 가능함. 1. 저 가속전압을 이용한 탄소소재 및 이외 물질의 구조분석 (0123 차원 구조) 2. 원자수준에서의 재료의 결함 분석과 연구 (Atomic defect) 3. 나노빔 전자회절을 이용한 미세영역의 결정성 분석 (Crystal Structure) 4. 탄소소재 또는 연관물질의 화학적 성분 분석(EDX dual-EELS Mapping Image) |
| 장비이미지코드 | http://nfec.ntis.go.kr/storage/images/equip/photo/201405/.thumb/2014051516371161.JPG |
| 장비위치주소 | 전북 완주군 봉동읍 은하리 산101번지 전북분원 한국과학기술연구원 전북분원 연구동 1층 R2164 |
| NFEC 등록번호 | NFEC-2014-05-188209 |
| 예약방법 | |
| 카타로그 URL | |
| 메뉴얼 URL | |
| 원문 URL | http://www.zeus.go.kr/equip/read?equipId=Z-NTIS-0040834 |
| 첨부파일 |
추가정보
| 과학기술표준분류 | |
|---|---|
| ICT 기술분류 | |
| 주제어 (키워드) |