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메모리 웨이퍼 테스터

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보유기관명	넷솔주식회사
보유기관코드
활용범위
활용상태
표준코드	C514
표준분류명
시설장비 설명	Wafer Test 장비이며 70MHz 장비로써 Wafer Test에 적합한 장비입니다. Wafer Test시 - RA (Redundancy Analysis)기능 보유 - Fail Bit Map Viewer 기능 보유 - PASS/FAIL 기능 보유되어 Sorting 가능 하며 Memory개발시에 적합한 장비입니다.- 70MHz 장비로써 Wafer Tester - RA (Redundancy Analysis)기능 보유 - Fail Bit Map Viewer 기능 보유 - PASS/FAIL 기능 보유되어 Sorting 가능 상기와 같은 성능을 띄며 P8 Prober와 같이 구성된 WF TESTER 임Wafer Test 시 > 반도체의 각각의 Die에 전기적 신호를 인가하여 > PASS/FAIL을 분류하며 > 총 PASS/FAIL을 합산하여 YLD 및 MAP을 확보 > 한장의 WAFER TEST를 진행하면 총 15만개의 수준의 각각 DATA가 확보되며 > 이를 총 분석 및 해석하여 반도체의 방향을 설정해 감.
장비이미지코드	http://nfec.ntis.go.kr/storage/images/equip/photo/201307/.thumb/201307231102920.jpg
장비위치주소	경기 성남시 분당구 삼평동 643번지 STS반도체 분석실 JS빌딩 F6
NFEC 등록번호	NFEC-2013-07-181229
예약방법
카타로그 URL
메뉴얼 URL
원문 URL	http://www.zeus.go.kr/equip/read?equipId=Z-NTIS-0037064
첨부파일