| 보유기관명 |
한국과학기술연구원 |
| 보유기관코드 |
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| 활용범위 |
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| 활용상태 |
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| 표준코드 |
A208 |
| 표준분류명 |
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| 시설장비 설명 |
Atomic Force Microscopy (탐침 주사 현미경) 를 이용하여 콜로이드입자와 같은 미세입자와 표면간의 Interaction Force 또는 Potential을 측정할 수 있는데 본 장비는 이러한 측정 시 필요한 Particle probe 을 만들 수 있는 장치임.Particle probe 을 만들기 위해서 Sample particle 을 tipless probe 에 부착할 수 있도록 하는 micro-manipulating system 을 갖추고 있으며 이 시스템은 x y z 축의 미세 움직임이 가능한 left-arm 과 x y 축의 움직임이 가능한 right-arm 즉 두 개의 arm 을 가지고 있음. Left-arm 의 끝에는 AFM Probe 을 고정시킬 수 있는 홀더가 있으며 스크류 나사를 이용하여 홀더에 probe 를 고정시키게 되어있음. 또한 고배율의 접안 현미경 또는 ccd 카메라와 연결된 컴퓨터 및 응용 프로그램을 이용하여 현미경으로 Probe의 tip 또는 부착된 particle 을 관찰하거나 shape 또는 size 등의 특성 분석이 가능하며 현미경 이미지을 capture 하여 저장하거나 제조 과정을 동영상으로 저장할 수 있는 장비임. |
| 장비이미지코드 |
http://nfec.ntis.go.kr/storage/images/equip/photo/201302/.thumb/20130204171731106.jpg |
| 장비위치주소 |
서울 성북구 월곡2동 과학기술연구원 39-1번지 한국과학기술연구원 연구동(L5) 1층 L5142 |
| NFEC 등록번호 |
NFEC-2013-02-175378 |
| 예약방법 |
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| 카타로그 URL |
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| 메뉴얼 URL |
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| 원문 URL |
http://www.zeus.go.kr/equip/read?equipId=Z-NTIS-0037415 |
| 첨부파일 |
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