보유기관명 |
고려대학교 |
보유기관코드 |
|
활용범위 |
|
활용상태 |
|
표준코드 |
C514 |
표준분류명 |
|
시설장비 설명 |
칩 형태로 개발된 테라헤르츠 집적회로를 측정하기 위한 장비입니다. 집적회로 칩의 성능을 측정하기 위해서는 칩 내부 회로와 PCB 등의 외부 회로를 도선으로 연결하는 작업(와이어 본딩)이 필요한데 이는 테라헤르츠와 같은 고주파수에서는 성능 저하 때문에 거의 쓰이지 않습니다. 따라서 집적 칩을 외부회로와 연결하지 않고 직접 컨택하여 측정할 수 있도록 해주는 장비가 본 프로브스테이션입니다.테라헤르츠(1012 헤르츠의 고주파수)의 측정이 가능하도록 기계적인 정밀 가공이 포함되어 있으며 그 외 3차원 프로브 포지셔너와 현미경 및 교정 소프트웨어를 내장하고 있습니다.테라헤르츠 집적 칩을 외부회로와 연결하지 않고 직접 컨택하여 측정할 수 있도록 해주는 장비입니다. 테라헤르츠 네트웍 분석기 스펙트럼 측정기 등의 장비들과 연동하여 사용할 수 있습니다. |
장비이미지코드 |
http://nfec.ntis.go.kr/storage/images/equip/photo/201301/.thumb/사진1.jpg |
장비위치주소 |
서울 성북구 안암동5가 고려대학교안암캠퍼스(인문사회계) 126-16 고려대학교 제2공학관 4층 519 |
NFEC 등록번호 |
NFEC-2013-01-174757 |
예약방법 |
|
카타로그 URL |
|
메뉴얼 URL |
|
원문 URL |
http://www.zeus.go.kr/equip/read?equipId=Z-NTIS-0037197 |
첨부파일 |
|