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장비
장비 및 시설 기본정보
반도체특성분석장치
장비 개요
| 기관명 | ZEUS |
|---|---|
| 장비번호 | |
| 제작사 | Keithley Instruments |
| 모델명 | 4200-SCS/F |
| 장비사양 | |
| 취득일자 | 2012-06-12 |
| 취득금액 |
보유기관 및 이용정보
| 보유기관명 | 이화여자대학교 |
|---|---|
| 보유기관코드 | |
| 활용범위 | |
| 활용상태 | |
| 표준코드 | C514 |
| 표준분류명 | |
| 시설장비 설명 | 극미세 구조에서 보이는 양자동력학 수송현상을 측정하는데 필요하다. 특히 글로브 박스 내부에서 제작되는 유기트랜지스터의 수송현상을 in-situ로 정밀하게 측정하는 것은 위에 기술한 모델에서만 가능하다.4200-SCS/F Semiconductor Characterization System Current Measurement Range: ±100nA to ±100mA - Minimum Current Measurement Resolution: ±0.1fA - Minimum Current Measurement Accuracy: ±10fA - Voltage Measurement Range: ±200mV to ±200V - Minimum Voltage Measurement Resolution: ±1uV 4200- PA Remote PreAmp 4210- CVU 1KHZ- 10MHZ Capacitance Voltage Measurement Unit 4200- SMU Medium Power Source- Measure Unit for 4200- SCS이화CNRS국제공동연구소 공동연구의 양자동력학 부분의 극미세 구조에서 보이는 양자동력학 수송현상을 측정하는데 필요하다. 이러한 정밀도를 갖는 기자재는 위에 기술한 모델에서만 가능하다. 따라서 해당 모델을 선정하였다. |
| 장비이미지코드 | http://nfec.ntis.go.kr/storage/images/equip/photo/201207/.thumb/20120713121122.JPG |
| 장비위치주소 | 서울 서대문구 대현동 이화여자대학교 11-1번지 이화여자대학교 종합과학관 A동 4층 418 |
| NFEC 등록번호 | NFEC-2012-07-167258 |
| 예약방법 | |
| 카타로그 URL | |
| 메뉴얼 URL | |
| 원문 URL | http://www.zeus.go.kr/equip/read?equipId=Z-NTIS-0034164 |
| 첨부파일 |
추가정보
| 과학기술표준분류 | |
|---|---|
| ICT 기술분류 | |
| 주제어 (키워드) |